一、概述

       EM5030/EM5030LF系列探头组包含了7个专门用来测试磁场（H）探头，它有效地屏蔽了电场干扰（E），主要用于电磁兼容整改时定位干扰源的近场探头。EM5030的频率范围是30MHz-3GHz，共4种探头形状；EM5030LF的频率范围是9kHz-50MHz，共3种探头形状。探头通过 50Ω的电缆直接与频谱仪或者示波器连接。当产品的辐射或传导干扰超过标准时，可用近场探头来寻找产品中哪个元件或电路产生了该频率的干扰，能够检测模块之间的耦合通道以及评估系统内信号切换速率、RF 电压等。当干扰信号比较弱时，可以配合 EM5020A(20dB 增益)或者 EM5020B(30dB 增益)前置射频射频放大器可以提高系统测试灵敏度。

二、近场探头EM5030LF规格表

三、近场探头EM5030LF应用

(1）EMI 辐射干扰源定位

(2）电磁场强度检测

四、操作方法

1、初步扫描： 使用近场探头对EUT进行初步扫描，覆盖设备的各个区域。记录下所有超出限制的频点和信号强度，这一步有助于快速识别潜在的EMI问题。

2、详细测量： 对初步扫描中发现的异常频点进行详细测量，调整RBW和VBW以获得更高的频率分辨率。逐步移动探头，并观察频谱仪上的信号变化，记录每个频点的峰值功率、电平和频率。

3、定位干扰源： 通过逐步缩小探头的扫描范围，可以精确定位干扰源的位置。对于复杂电路板，可以利用电场探头和磁场探头交替测量，以判断干扰信号的性质和源头。

4、远近结合： 如果找到了一些明显的干扰源，可以进一步结合远场测试数据进行分析，以确认这些干扰是否会传导到设备外部，并最终影响到周围环境。

五、其它型号

       EM5030E系列探头组包含了2个专门用来测试电场(E)的探头，覆盖频率范围为30MHz到3GHz，主要应用于查找电场干扰源，除了探头其他部分均为屏蔽设计。