日本yamabun桌面离线型测厚仪介绍

离线式测厚仪是台式紧凑型测厚仪。将薄膜或片材切成条状并测量。由于测量是在自动运输的同时进行的，因此任何人都可以轻松快速地进行测量，并且不受测量者技能的影响是一大特点。
常用于质量控制部门和研发应用。此外，由于测量的图形可以以环形显示，因此经常用于充气膜的制造现场。

型号：TOF-4R05

测量方法

测量对象：薄膜、片材

测量厚度：0.03 至 3 毫米

型号：TOF-5R01

测量方法

测量对象：胶片/胶卷

测量厚度：0.02-0.2毫米

型号：TOF-6R001

测量方法

测量对象：薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亚胺薄膜、光学薄膜等）

测量厚度：5-100微米

型号：TOF-C2 * TOF-C 的后续型号

测量方法

测量对象：薄膜、粘性保护膜、易附着灰尘的薄膜

测量厚度：~ 500 微米

型号：TOF-S

测量方法

测量对象：电子、光学用透明平滑膜、多层膜

测量厚度：1 至 50 μm（用于薄材料）
10 至 150 μm（用于厚材料）　　　　

型号：TOF-M

测量方法

测量对象：钢板或铝板等金属板

测量厚度：0.1-0.5毫米