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适用于光学薄膜和透明涂膜的厚度测量技术

时间:2022-02-18      阅读:582

适用于光学薄膜和透明涂膜的厚度测量技术

产品特点
  • 实现高测量重复性(± 0.01 μm 或更小,取决于对象和测量条件)

  • 不易受温度变化的影响

  • 可以制造用于研究和检查的离线型和制造过程中使用的在线型。

  • 反射型允许从薄膜的一侧测量

  • 只能测量透明涂膜层(取决于测量条件)

产品规格
测量厚度1 至 50 μm(用于薄材料)、10 至 150 μm(用于厚材料)    
测量长度50-5000 毫米
测量间距1 毫米 ~
最小显示值0.001 微米
电源电压AC100 伏 50/60 赫兹
工作温度限制5~45℃(测量时温度变化在1℃以内)
湿度35-80%(无冷凝)
测量区域φ0.6毫米
测量间隙约 30 毫米



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