TOF-C2 * TOF-C-日本yamabun薄膜台式离线电容式测厚仪_测厚仪-深圳市秋山贸易有限公司手机版

产品简介

日本yamabun薄膜台式离线电容式测厚仪TOF-C2 * TOF-C
离线型厚度计是台式紧凑型厚度计。将薄膜或薄片切成条状并测量。主要特征是任何人都可以轻松，快速地进行测量，因为测量是在自动运输时执行的，并且不受测量者技能的影响。
它通常用于质量控制部门和研发应用程序。另外，由于测量图可以以环形显示，因此它们经常用于吹膜生产现场。

详细介绍

日本yamabun薄膜台式离线电容式测厚仪TOF-C2 * TOF-C

日本yamabun薄膜台式离线电容式测厚仪

厚度台式型离线型用于质量控制和检查

离线型厚度计是台式紧凑型厚度计。将薄膜或薄片切成条状并测量。主要特征是任何人都可以轻松，快速地进行测量，因为测量是在自动运输时执行的，并且不受测量者技能的影响。
它通常用于质量控制部门和研发应用程序。另外，由于测量图可以以环形显示，因此它们经常用于吹膜生产现场。

型号	TOF-C2 * TOF-C的后续型号
测量方式	非接触型/电容型
测量目标	薄膜，例如拉伸膜，粘性保护膜，容易粘附灰尘的膜
测量原理	电容式

产品特点

高测量分辨率
非常适合非接触型难以接触的薄膜
即使在粗糙的表面上也可以测量
基重测量
操作简便（具有自动介电常数设定功能）

日本yamabun薄膜台式离线电容式测厚仪TOF-C2 * TOF-C

产品规格

测量厚度	5至500μm
测量长度	10-10000毫米
测量间距	1毫米〜
小显示值	0.01微米
电源电压	AC100V 50/60赫兹
工作温度范围	5-40°C（测量期间温度变化在1°C以内）
湿度	35-80％（无凝结）产品特点高测量分辨率非常适合非接触型难以接触的薄膜即使在粗糙的表面上也可以测量基重测量操作简便（具有自动介电常数设产品特点高测量分辨率非常适合非接触型难以接触的薄膜即使在粗糙的表面上也可以测量基重测量操作简便（具有自动介电常数设产品特点高测量分辨率非常适合非接触型难以接触的薄膜即使在粗糙的表面上也可以测量基重测量操作简便（具有自动介电常数设产品特点高测量分辨率非常适合非接触型难以接触的薄膜即使在粗糙的表面上也可以测量基重测量操作简便（具有自动介电常数设

产品简介

详细介绍

厚度台式型离线型用于质量控制和检查

常用功能直达