宁波高低温试验箱

JW-1003宁波高低温试验箱

参考价: ¥10000~¥100000

具体成交价以合同协议为准
2023-05-10 14:56:27
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浙江巨为仪器股份有限公司

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产品简介

JW-1003宁波高低温试验箱是航空、汽车、家电、科研等领域*的测试设备,用于测试和确定电工、电子及其他产品及材料进行高温、低温、或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。

详细介绍

JW-1003宁波高低温试验箱触摸按键 . 自动警示 . 精准控温

  进口数显触摸按键,P.I.D 微电脑S.S.R温度控制器(韩国三元ST190仪表),温度控制采用P.I.D + S.S.R系统同频道协调控制,具有自动演算的功能,可将温度变化条件立即修正,使温度控制更为精确稳定。

  铂金电阻温湿度传感器

  感温传感器

  PT100铂金电阻测温体

  热平衡调温调湿方式

  温湿度控制采用P.I.D + S.S.R系统同频道协调控制

  具有自动演算的功能,可将温湿度变化条件立即修正,使温湿度控制更为精确稳定

  *配置 . 生态环保 . 绿色科学

  为了保证试验箱对降温速率和zui低温度的要求,本试验箱的制冷系统采用进口压缩机所组成的复叠式制冷系统,该制冷系统具有匹配合理、可靠性高、使用维护方便等优点。

JW-1003宁波高低温试验箱箱体结构:

  1、内胆采用进口高级不锈钢(SUS304);

  2、保温材质:硬质聚氨酯泡沫+玻璃纤维;

  3、采用无反作用门把手,操作更容易;

  4、机器底部采用高品质可固定式PU活动轮;

  5、外胆均采用优质(t=1.2mm)A3钢板数控机床加工成型,外壳表面进行喷塑处理,更显光洁、美观;

  6、搅拌系统:采用长轴风扇电机,耐高低温之不锈钢多翼式叶轮,以达强度对流垂直扩散循环;

  7、门与箱体之间采用双层耐高温之高张性密封条以确保测试区的密闭;

  8、观察窗采用多层中空钢化玻璃,内侧胶合片式导电膜(可清楚观察试验过程);

  9、可选配测试孔:在机器左侧安装直径为50mm,用于外接测试电源线或信号线使用(孔径和孔数需在订前另说明)。

  三、设备使用条件

  1、环境温度:5℃~+28℃(24小时内平均温度≤28℃)

  2、环境湿度:≤85%RH

  3、电源要求:AC380V±10% 50`±0.5Hz 三相五线制

JW-1003技术参数

型号

JW-1001

JW-1002

JW-1003

 

JW-1004

JW-1005

 

内部尺寸(W*H*D)cm

35*40*35

40*50*40

40*50*50

50*60*50

50*75*60

标称内容积(L)

49

80

100

150

225

型号

JW-1006

JW-1007

JW-1008

JW-1009

其他

内部尺寸(W*H*D)cm

60*85*80

70*90*80

80*100*100

100*100*100

 

标称内容积(L)

408

504

800

1000

 

 

 

 

技术指标

 

标准温度范围

 

0~150,  -20~150, -30~150, -40~150, -50~150-60~150℃ , -70~150

温度波动度

温度波动度:≤±0.5

温度均匀度

度均匀度:±2

 

升降温速率

A、平均升温速率:2~3℃/min,平均降温速率:0.7~1℃/min

B、快速温度变化试验箱:

快速降温3~5℃/min,快速升温3~5摄氏度/min

C、噪音65dB(以上均为空载)

 

制冷

系统

法国全封闭泰康压缩机或德国比泽尔压缩机,单级制冷,低于-40℃复叠制冷

制冷剂

单级-R-404A,复叠二级:R-23(无氟)

冷却

风冷或水冷或工业冰水机配套

传感器

 

A温度传感器:A级铂金电阻(PT100

B湿度传感器:A级铂金电阻(PT100

 

 

 

材质

A、工作室:#304镜面不锈钢

B、外箱体:冷轧钢板静电喷涂

 

加热器

不锈钢加热系统

满足标准

GBT10586-2006GB10592-2008GJB150.3A-2009,GJB150.4A-2009GB/T2423.3-2006GB/T2423.4-2008GB/T2423.1-2008GB/T2423.2-2008GB/T2423.22-2002GB/T2423.9-2001等等

特殊要求可定做

 

产品适用于考察 电工电子产品、元器件、零部件及其材料在不同温度条件下,其耐高低温能力,还可以作为在高低温环境下储存、运输和使用的适应性试验。高低温试验箱是航空、汽车、家电、科研等领域*的测试设备,用于测试和确定电工、电子及其他产品及材料进行温度、恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。 

 

 

 

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