UVM-1™全光谱显微镜的设计是将紫外-可见-近红外成像技术和显微技术相结合，能够*的实现紫外-可见-近红外的成像。具有前沿技术的UVM-1™全光谱显微镜结合CRAIC创新设计的光学技术，用户仅用一台显微镜就能在整个宽光谱范围内完成显微成像，无论是高分辨能力，还是光谱成像能力， UVM-1™都代表了显微成像领域的高水平。

      UVM-1™全光谱显微镜具有*的多功能系统设计，能够允许用户只在一台显微镜上获得紫外-可见-近红外的高分辨率成像和分析结果。紫外显微镜对半导体内微量异物有很高的灵敏性，相比标准的显微镜，具有强大的的能力测量微量变化。近红外显微镜能够无损的、有选择性的对硅晶片设备内部的电子电路进行精确的成像,这些应用知识是其众多应用领域的一小部分。 UVM-1™也可与拉曼一起提供给您更多的功能。UVM-1™全光谱显微镜灵活的设计使其在任何应用领域都能做到显微光谱分析工具。

UVM-1™参数