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Apogee新的DLI-400测量仪设计用于测量400-700纳米的光合有效辐射（PAR），是一种低成本的选择，只在阳光和一些宽带光源下准确。可以应用测量后的修正系数来提高光源下的准确性；除了测量PAR，DLI-400测量仪还可以计算每日光积分（DLI）和光周期。
用途：Apogee新的DLI-400测量仪设计用于测量400-700纳米的光合有效辐射（PAR），是一种低成本选择，只在阳光和一些宽带光源下准确。可以应用测量后的修正系数来提高光源下的准确性；除了测量PAR，DLI-400测量仪还可以计算每日光积分（DLI）和光周期，PPFD、DLI 和光周期数据可在屏幕上查看或通过 USB-C 电缆下载进行分析，可直接放在水平面上也可安装到三脚架、夹具或木桩上。
DLI-400测量仪有两种不同的屏幕模式：存储数据和实时查看数据。在存储数据屏幕中，它显示DLI测量值、光照时间和采集数据的日期（最多99天以前）。实时查看数据屏幕显示过去2.5秒内PPFD的运行平均值。
特点：
•经济高效；
•坚固耐用，可在潮湿环境下使用，防护等级IP65；
•数据实时显示。
技术参数：
光谱范围（±5 nm） | 370nm~650nm（仅阳光） |
量程 | 0~4000 μmol/m2/s |
视角 | 180° |
校准误差 | ±5% |
重复性 | <0.5% |
非稳定性（长期漂移） | <2%/年 |
测量频率 | 3min |
非线性 | <1%（≤4000μmol/m2/s） |
响应时间 | 2.5s |
方向响应 | ±5%（75°天顶角） |
温度响应 | -0.04%/℃ |
数据记录容量 | 99天（DLI 和光周期），10 天（30 分钟 PPFD/ePPFD 平均值） |
存储数据分辨率(PPFD) | 0.1μmol/m2s（≥1000时屏幕不显示小数） |
存储数据分辨率 (DLI) | 0.1 mol mˉ² /天 |
存储数据分辨率 （光周期） | 0.1小时 |
连接性 | USB--C 数据传输的 CSV 文件 |
ADC 分辨率 | 24位 |
工作环境 | -10 至 60 ℃；0 至 100 % 相对湿度 |
防护等级 | IP65 |
电池寿命 | 6个月 |
尺寸 | 1.91宽x 2.31高x 0.93深(英寸) |
电池类型 | 两节AAA |
重量 | 67g |
