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CIS-LIBS颗粒元素分析系统：快速、精确、一键分析
需要多台设备配套：
仅凭放大观察并不能查明成分
需要使用多台设备或委托外部分析
需要进行预处理：
对进入分析设备内的尺寸有限制,需要破坏或切断目标物
需要进行目标物表面的导电性处理、分析设备内部的真空处理
对实验员素养要求高：
由于分析设备具有高专业性,只有少数人会操作
只有具备专业知识,才能根据检测到的元素判断物质
只需一台即可完成
只需一台即可快速执行从放大观察到元素判别 要进行元素判别的人员可当场进行作业
无需预处理
对目标物尺寸没有限制，无需破坏也可直接分析
在空气中进行分析，无需进行导电性处理及真空处理
轻松进行元素判别
使用显微系统观察的同时，一键点击即可进行元素判别 根据内部数据库，瞬时推测检测物质
CIS-LIBS颗粒元素分析系统规格参数
型号 | CIS- LIBS | |||||||||||
LIBS光学模块 | 检测原理 | 激光诱导击穿光谱法 | ||||||||||
检测性质 | 定性及半定量 | |||||||||||
检测能力 | %水平 (取决于元素) | |||||||||||
检测环境要求 | 无, 分析在大气条件下进行 (无, 常温常压条件下进行) | |||||||||||
对应元素 | CU、A | SUS、 Fe、 L | C、cr 、Mg、Mn | T | Y、zn 、Au等常见元素 | |||||||
激光 | 激光类型 | Nd :YAG (半导体泵浦) | ||||||||||
激光波长 | 355nm | |||||||||||
单脉冲能量 | <100UJ | |||||||||||
脉冲宽度 | ≤1 . 5ns | |||||||||||
点规格 | 15um (typ) | |||||||||||
烧蚀深度 | 1 - 10um (取决于材料 | |||||||||||
光谱仪 | 光谱范围 | 200至780nm | ||||||||||
光谱分辨率 | 0 . 15nm | |||||||||||
信噪比 | 500 | |||||||||||
探测器 | CMOS探测器 | |||||||||||
激光镜头 | 镜头类型 | 专属规格透射型镜头 | ||||||||||
镜头倍数 | 7X | |||||||||||
工作距离 | 18mm | |||||||||||
扫描光学模块 | 入射光轴 | 相差观察方法 | 奥林巴斯BX53M , BF明场照明 | |||||||||
物镜 | 5X, 10X,20X,50X | 可选 | ||||||||||
照明 | 大功率数字LED, 软件可控, 带记忆模式 | |||||||||||
偏光系统 | 偏光00与偏光90o 自动数字切换, 带记忆模式 | |||||||||||
数字成像 | 相机型号 | DFK33UX249 | ||||||||||
相机分辨率 | 1920x1200 (2 . 3mp) | |||||||||||
相机靶面 | 2英寸 | |||||||||||
帧速 | 48FPS | |||||||||||
扫描载物台 | 载物台方向 | XYZ三轴 | ||||||||||
行程范围 | Xy轴125x75mm, z轴35mm | |||||||||||
分辨率 | 0 . 1um(软件控制) | |||||||||||
精度 | <5μm | |||||||||||
控制方式 | 软件自动控制+遥杆细分控制 | |||||||||||
生成报告 | 生成方式 | 自动生成 | ||||||||||
报告内容 | 单颗粒材质专业报告 | |||||||||||
全颗粒材质专业报告 | ||||||||||||
电脑 | 15处理器, 16G内存, 硬盘1TB,显示器22寸 | |||||||||||
设备电源 | 供电方式 | AC 220V50Hz | ||||||||||
保修期 | 整机12个月 | |||||||||||
耐环境性 | 使用环境温度 | +10至45 | ||||||||||
使用环境湿度 | 。至85%RH (无冷凝) | |||||||||||
重量 | 系统 | 约50KG | ||||||||||
外形尺寸 | 宽度490mm x高度600mm x纵深840mm | |||||||||||
