METTLER梅特勒密度天平XS3DU_实验天平-郑州伟创检测设备有限公司手机版

详细介绍

极限值	XS3DU双量程	典型值	XS3DU双量程
称量值	3.1 g	典型重复性（sd）	0.0005 mg +1.2 x (10?C7)?R_gr
可读性	0.01 mg	典型微分非线性（sd）	√2x(10-12)g?R_nt
称量值	0.8 g	典型微分四角误差（sd）	1.2 x (10?C6)?R_nt
可读性	0.001 mg	典型灵敏度偏移（sd）	3 x (10?C6)?R_nt
重复性(sd) - 加载处	0.006 mg	典型最小称量值*	@ U=1 %, 2 sd) 0.1 mg+2.4 x (10?C6)?R_gr
- 低加载（加载处）	0.005 mg (0.2 g)	典型稳定时间	< 6 sec
重复性(sd) - 加载处	0.001 mg	稳定时间	< 10 sec
- 低加载（加载处）	0.0008 mg (0.2 g)	1) 根据OIML R76 2) 在10到30°C的温度范围内 3) 次安装，使用proFACT校准，灵敏度稳定性 4) 能用于估计不确定度 sd=标准偏差 Rgr=毛重 Rnt=净重（样品质量） a=年 * 重复性和最小称量值可以通过以下措施得以改进：- 选择适当的称量参数设置， - 选择合适的天平放置位置，- 使用较小的去皮容器。
线性误差	0.004 mg
四角误差（加载处）	0.005 mg (2 g)