SID4-DWIR中远红外波前传感器/波前分析仪

【SID4-DWIR中远红外波前传感器/波前分析仪简介】

随着光波波前探测技术的发展，各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类：一类是根据几何光学原理，测定波前几何像差或面型误差，主要有Shack－Hartmann 波前传感器，曲率传感器和Pyramid 波前传感器等；另一类是基于干涉测量原理，探测波前不同部分的干涉性，来获取波前信息，主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;SID4-DWIR波前传感器结构简单，抗干扰能力强，条纹稳定。SID4-DWIR波前传感器是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-DWIR波前传感器是市面上一款同时覆盖3 - 5 µm中红外和8 - 14 µm远红外的双波段红外高分辨率波前传感器。 它非常适合表征红外光学器件，黑体光源，3.39 µm或10.6 µm激光和光学系统。

【关于Phasics】

Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与*的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。

一、 SID4-DWIR 波前传感器/波前分析仪主要特点

• 160 x 120 高相位分辨率

• 中远红外双波段2合1

• 高数值孔径测量无需过渡镜

非准直光入射 

 消色差

二、SID4-DWIR波前传感器产品应用

• 波前像差测量

基于四波剪切技术，Phasics 的波前传感器同时提供高分辨率的相位和强度测量。 波前传感器与其光束分析软件相结合，可提供完整的激光诊断：波前像差、强度分布、激光光束质量参数（M2、束腰尺寸和位置等）。Phasics 的波前分析仪可以放置在光学装置的任何一点，无论光束是准直的还是发散的。 Phasics SID4-DWIR 波前传感器适用于从紫外到远红外的任何连续或脉冲激光，包括宽带可调光源、拍瓦激光等。

• MTF测量

SID4系列波前传感器可以配合用户自行搭建的光路系统进行像质评价，只需一次直接拍摄，就可以通过软件后处理测量参数(PSF, MTF, Zernike系数)。如果不自行搭建光路，也可以进一步了解Kaleo Kit 套装等产品测量MTF。

三、SID4-DWIR波前传感器应用领域

激光| 自适应光学及等离子体检测| 光学元件及光学系统计量

四、SID4-DWIR波前传感器主要规格

五、与夏克-哈特曼波前传感器对比

六、更多参数选型