X射线显微高分辨率CT-陶瓷材料孔隙结构——SkyScan 1272 是一台具有革新意义的高分辨率三维 X 射线成像系统。单次扫描可获得多达 2000 张，每张大小为 209M（14450 x 14450 像素）的超清无损切片，用于之后高分辨三维重建。通过*的相衬增强技术，SkyScan1272 对样品的细节检测能力（分辨率）高达 350 纳米。

X射线显微高分辨率CT-陶瓷材料孔隙结构——SkyScan 1272的具体设备参数如下：

►设备参数

• 图像分辨率（Pixel Size）：350nm
• 空间分辨率：4µm
• 20-100kV 新式X射线源，免维护
• 样品尺寸：直径达75mm，长达70mm
• 1600万像素高分辨率CCD探测器，配备光纤面板，以确保长使用寿命和重建质量和精度
• 快速重构软件InstaRecon，重构1K*1K切片仅需0.02S.重构容积14456*14456*2610像素：10h (1PC)  VS 19h (8GPU Cluster)
• 系统自带软件包括2D/3D图像定量分析软件和支持面渲染和体渲染的3D可视化软件，以及手机APP
• 可选16位自动进样器

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►隔热陶瓷孔隙结构特征分析

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