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数字式四探针测试仪 方块电阻测量仪
型号：SN/SX-1934B
北京方块电阻测量仪
SX－1934四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置。广泛用于半导体厂家、太阳能行业，还能满足科研单位的精密研究。
北京方块电阻测量仪产品特点
四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M 标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）测试仪器。
仪器以大规模集成电路为核心部件，采用旋扭式开关控制，及各种工作状态LED指示。应用微计算机技术，使得测量读数更加直观、快速。整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。上海华岩仪器设备有限公司供应SX1934四探针测试仪。
技术指标
型号 | SX1934(SZ82) |
测量范围 | 电阻率/Range：10-4—105Ω/□(可扩展/extended range) 方块电阻(薄层电阻) /Sheet resistance：10-3—106Ω/□ 电阻/resistance：10-6—105Ω |
可测晶片直径（大） | φ100mm，方形230×220mm |
大电阻测量误差(按JJG508-87) | 0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±0.3%读数±2个字 |
外形尺寸 | 400mm×440mm×120mm |
仪器重量 | 电气主机：约4kg 测试台：约5kg |
测试环境 | 温度：23±2℃ 相对湿度：≤65％； 无高频干扰 无强光照射 |
电源 | 220V±10%(50Hz) 功耗≤35W |
备注 | 可以选配电脑接口 |
探头 | Sx系列四探针探头是采用综合性能优异的高分子材料、耐磨和硬度高的探针研制的测量数据稳定、可靠、准确度高、耐用性能好四探针探头。所有技术指标符合国家标准，同时符合ASTM标准有关规定。 间距：1±0.01mm； 针间绝缘电阻≥1000MΩ； 机械游移率:≤1.0%； |
