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光学膜厚仪 光学膜层厚度测量控制仪
型号：LT/CDNY-03AM
北京光学膜层厚度测量控制仪
CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有的抑制能力。
北京光学膜层厚度测量控制仪主要性能指标及技术指标
主信号通道：
信号输入方式：单端交流输入
输入量程：0.5mV-500mV
信号频率范围:1KHz±5%
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端)
性误差: ≤0.1%
零点时源： ≤0.2%/h
参考信号通道：
信号输入方式：单端交流输入
输入幅度：20-700mV
频率范围:≥320。
调制光源 |
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| 本光源是光学镀膜工艺的信号源。它具有稳定可靠、安装调试方便。聚焦光斑直径小为φ3mm 主要数据 频率: 1000HZ±1% 500HZ±1% 250HZ±1% 焦距 200mm~4000mm 散热：轴流风机 |
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