介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；SZ-STD-A介电常数测试仪可广泛应用于大专院校、科研院所对无机非金属新材料性能的应用研究。

主要技术指标
1．频率范围及刻度误差
范围：50KHz~50MHz共分七个波段，允许误差：+2%
   1.1：50~150KHz；         1.2：150~450KHz
   1.3：450~1500KHz；       1.4：1.5~4.5MHz
   1.5：4.5~12MHz；         1.6：12~25MHz
   1.7：25~50MHz；
2．Q值测量范围及误差
范围：5~500
 

SZ-STD-A介电常数测试仪误差：

1）当频率从5~25KHz

             量程5~50 +5%， 量程15~150 +5%，量程50~500 +7%
2）当频率从25~50MHz，所有量程均为+10%
3）△Q范围：-25 ~ 0 ~ +25。
3．电感测量范围及误差：范围：0.1μH~100mH，误差：+5%+0.01μH
4．试样尺寸
圆片形：厚度2+0.5mm，直径为Φ30~40mm（ε<12时）；
Φ25~35mm（ε=12~30时）Φ15~20mm（ε>30时）。