仪器介绍

天瑞仪器是国内的测厚仪生产厂家，thick8000可以测试铜上镀镍镀金的厚度，所以有人称它为铜上镀镍金测厚仪，又称X射线荧光测厚仪，采用X-Ray原理，所以是一款无损测厚仪，多一次性可以测5层。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

部分产品

X荧光镀层测厚仪，电镀镀层测厚仪，铜上镀金镍测厚仪，xrf镀层膜厚测试仪，x射线荧光测厚仪,X射线镀层膜厚仪，X射线镀层测厚仪，XRF镀层测厚仪，X荧光镀层膜厚仪， x-ray镀层测厚仪，X光电镀层测厚仪，X荧光镀层测厚仪品牌，x射线电镀层测厚仪，损金属镀层测厚仪，天瑞镀层检测仪，X射线荧光金属镀层分析仪，镀层膜厚测试仪， 国产电镀层测厚仪， x射线荧光镀层测厚仪，电镀层测厚仪厂家， PCB表面镀层测厚仪,X射线荧光多镀层厚度测量仪，镀层分析仪X荧光电镀层测厚仪，金属镀层测厚仪，X射线镀层测厚仪价格，铜镀银X射线无损测厚仪。

技术指标

分析元素范围：硫（S）～铀（U）

同时检测元素：多24个元素，多达5层镀层

分析含量：一般为2ppm到99.9%

镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）

SDD探测器：分辨率低至135eV

良好的微孔准直技术：小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm

样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头

准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合

仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm

样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

样品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm

X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平台重复定位精度：小于0.1um

操作环境湿度：≤90%

操作环境温度：15℃～30℃

性能优势

1.精密的三维移动平台

2.的样品观测系统

3.良好的图像识别

4.轻松实现深槽样品的检测

5.四种微孔聚焦准直器，自动切换

6.双重保护措施，实现无缝防撞

7.采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度

全自动智能控制方式，一键式操作!

开机自动自检、复位；

开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样；

关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦；

直接点击全景或局部景图像选取测试点；

点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示结果。