产品介绍

矿石光谱分析仪是使用X射线照射试样，对产生的X射线荧光进行解析，用以分析试样元素和含量的装置。由于X荧光光谱仪器使用方便、快捷，精度高，成本低等特点，已经在很多行业得到广泛的应用。尤其在地质矿产行业，其应用更得到客户的认可。

天瑞仪器生产的3600K\\SUPER2400\\EDX4500H台式系列和便携式系列X荧光光谱分析仪，就是在地质矿产行业应用非常成功的几款光谱仪器，它们具有以下特点： 
1、 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素，并达到测量精度要求。
2、台式系列X荧光光谱分析仪是能量色散的设备，其结构简单，可靠性高，对环境要求较低，可以使用在生产一线，并对操作人员的要求也很低。维修方便，维护成本很低。
3、 它采用进口国际上良好的UHRD探测器，分辨率可达到128eV以上，并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。便携式Pocket系列分辨率可达到180±5eV。
4、 台式系列X荧光光谱分析仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。可分析的元素范围从Na到U，便携式GENIUS系列可分析元素范围从MY到U。
5、 它们是非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。
6、 由于台式系列X荧光光谱分析仪产品测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。其系列产品的分析精度低于0.05％，检出限可高达2ppm（不同的样品其指标有所不同）。
7、 可以一次分析二十四种元素，并且同时报告结果。在实际应用中，对主元素与参考元素可以同时分析，这非常适合一线生产工艺指导的要求，同时对产品失效快速分析提供依据。 
8、 测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种良好的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。
9、 便携式系列X荧光光谱分析仪(Genius7000）坚固耐用、稳定可靠、使用灵活、校准方便等特点，专业化PDA测试软件使在测试时高灵敏度、蓝牙通讯、高速度、多模式多元素自动定性定量分析，便携、方便使用，便于客户在现场分析和原位分析。

Genius7000型便携式光谱矿石分析仪

产品概述

Genius 7000 XRF系列是专门针对在现场、野外进行X荧光分析应用而设计的仪器，可充分满足检验地质样品、岩芯、原矿、废弃物、精矿、尾矿的现场分析，对各类样品进行快速识别和成份分析鉴别。具有体积小，重量轻，普通人可手持测量的特点；

该系列设备采用X射线荧光分析技术，具有超小、超轻、超美、超安全、超方便、超长待机时间、超防水、超准、超快等特点，使仪器检出限更好，稳定性更高，适用面更广。

设备均通过严格检测和验证，各项指标均符合相关技术要求，技术达国际较高水平；可满足各类用户对地质及矿产的需求。

优势特点

重量轻，坚固耐用，适用于任何现场环境及天气条件
采用嵌入式软件系统，数据传输与显示刷新速度更快，系统不会感染病毒，保障数据安全，系统更稳定
彩色液晶显示屏可以实现上下90度和左右270度旋转，户外使用时可防止屏幕反光，方便任何角度进行数据观察，使数据查看更清晰
可分析元素38种，分析速度快、可靠、为现场快速决策提供依据
内置高清晰摄像头，可以随时观察被测样品的测试位置，方便用户现场和追溯
提供额外的车载充电器，使户外工作更方便
具有*的三重安全防护功能：自动感应，没有样品时仪器停止工作，无射线泄漏；采用加厚的铅皮防辐射壁；同时配备防护安全罩，进一步减少测试过程中散射射线，使操作者更安全。辐射防护射线泄露剂量率指标远远低于GB5208.1-2005《微计量X射线安全检查设备》中的“在距离设备外表面5cm的任意处（包括设备的入口、出口处），X射线泄露剂量率应小于5μSv/h”的要求
内置全球定位接收系统（GPS），方便检测定位
用于品位控制、矿业生产和近矿勘探，充分挖掘矿山价值，是矿山开采的理想选择
性价比高，实用经济型

EDX4500H型光谱矿石分析仪

光谱矿石分析仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。 
该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。 
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

性能特点

高效超薄窗X光管，指标达到国际较高水平 
新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比 
天瑞仪器产品—信噪比增强器（SNE），提高信号处理能力25倍以上 
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好 
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围 
自动稳谱装置保证了仪器工作的*性
高信噪比的电子线路单元 
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐 
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头 
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

技术参数

产品型号：EDX 4500H
产品名称：X荧光光谱仪 
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同） 
同时分析元素：一次性可测几十种元素 
测量时间：30秒-200秒 
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV 
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃ 
环境湿度：35%-70%
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

标准配置

高效超薄窗X光管 
SDD硅漂移探测器 
数字多道技术
信噪比增强器 SNE
光路增强系统 
高信噪比电子线路单元 
内置高清晰摄像头 
自动切换型准直器和滤光片 
自动稳谱装置 
三重安全保护模式 
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵

应用领域

合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）.