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x射线荧光测厚仪是一款通过X射线照射方式测试电镀层厚度的仪器,针对镀金、镀镍、镀锌、镀锡、镀银等镀层厚度检测,一次性多可以测5层,是一种无损仪器,整个操作通过电脑全过程清晰可见,而且操作非常简单,人员简单的培训即可上岗操作,降低了企业在来料(不合格)和生产过程中因产品镀厚或者镀薄而造成的不必要损失。
天瑞X射线荧光测厚仪性能优势
新款Thick8000x射线荧光测厚仪秉承了上一代Thick800A的优点,在此基础上设计了三维移动平台,良好的样品观测系统和图像识别功能,满足了槽状样品的测试和不同规格样品的测试,同时加上大面积的高分辨率的探测器,大大提高了准确度,为客户提供更的测试,从而降低产品的成本,提高产品的竞争力。
天瑞X射线荧光测厚仪技术参数
可以分析从硫到铀之间的元素,同时可以测试24种元素之多,含量范围一般从2个PPM到百分之99.9;镀层厚度一般在50μm以内,不同材质略有差异,良好的SDD探测器,高清的工业摄像头,仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm
部分产品
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应用领域
x射线荧光测厚仪主要应该用在电子电器(线路板/PCB)、五金工具、电镀加工、制冷设备、半导体、五金配件、端子连接器、腔体等企业中。
镀层产品图