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一、 冷热冲击试验箱用途：
电子电器零组件、金属、化学材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化的理想测试工具. 冷热冲击试验箱电子电器零组件、金属、化学材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化的理想测试工具。
二、 尺寸及温度选择
| 产品型号 | DGJS-50 | DGJS-80 | DGJS-150 |
| 内尺寸 | 36x40x35(HxD)CM | 40x50x40(HxD)CM | 50x60x50(HxD)CM |
| 外尺寸 | 155x175x160(HxD)CM | 155x185x160(HxD)CM | 165x195x170(HxD)CM |
| 温度范围 | -65~150℃；可分为几个等级：-40℃；-55℃；-65℃ | ||
| 温度转时间 | ≦35min≧10sec | ||
| 温度控制精度/分布精度 | ±0.5℃/±0.1℃ | ||
| 5.15 温度偏差 | ≦±2℃ | ||
| 5.16 温度均匀度 | ≦±2℃ | ||
三、试样限制
禁止：
1. 易燃、爆炸、易挥发性物质试样的试验及储存
2. 腐蚀性物质试样的试验及储存
3. 生物试样的试验或储存
4. 强电磁发射源试样的试验及储存
5. 放射性物质试样的试验及储存
6. 剧毒物质试样的试验及储存
7. 试验或储存过程中可能产生剧毒物质的试样的试验及储存
