日本NF LCR测试仪ZM系列概述

测量范围覆盖从1mHz低频领域到5.5Hz高频领域
实现了快速且偏差小的稳定测量，可对应从材料研究到零部 件生产线等的各种用途

日本NF LCR测试仪ZM系列偏差小的高再现性 测量示例

按照以下条件使用ZM2372和ZM2376，对1nF的电容反复测量200次后得到的结果。
使用ZM2376，测量的再现性得到了进一步提高。

技术参数

早在1959年， 高精度的负反馈控制技术尚未在日本国内普及， 我们就已经以此为基础， 根据“凡是社会需要的， 就是我们要创造的新产品”的理念， 创建了NF公司。 此后， 我们继承和发扬了这一先驱精神， 积极探索尚未被人们了解的新领域， 不断创新并提供独有产品， 为新一代的产品开发和社会发展做出我们的贡献。 NF的*技术涉及到极其广阔的领域， 包括汽车和数字家电等*电子技术、 燃料电池和太阳能发电等清洁能源技术、 纳米技术、 以及人造卫星和火箭等宇航技术。今后， 我们仍将继续钻研*技术， 不断地为未来的科技发展提供高新技术产品。