美国GE/MSEB4|MSEB2S双晶保护膜探头应用
时间：2021-03-28 阅读：600
美国GE/MSEB4|MSEB2S双晶保护膜探头应用|京海兴乐科技（北京）有限公司现货提供
应用
用于检测简单形状的工件中平行于表面的缺陷
锻件、铸件
金属材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、机器零件、壳体
特点
纵波单晶探头
适合DGS缺陷评判
性能参数误差小，适合高精度检测
可更换保护膜，保护探头不被磨损
柔性保护膜，即使是在粗糙或轻微弯曲的表面上也能很好地耦合
合金压铸壳体，坚固耐用
用于高温检测时可加装高温延迟块（定制产品）
系列 | 型号 | 频率 BS | 1 | 侧装 | 24mm | ES45 |
1 | ||||||
2 | ||||||
2.25 | ||||||
4 | ||||||
5 | ||||||
1 | 顶装 | |||||
2 | ||||||
4 | ||||||
5 |
(MHZ)
接口方向
带宽
晶片直径
接口类型
保护膜
B1S-EN
25
Lemo 01
B1S
B2S
B2.25SE
B4S
B5S
B1S-O
B2S-O
B4S-O
B5S-O