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日立荧光X射线镀层分析仪
¥100000Niton尼通手持式出口消费品分析仪
¥300000Niton手持式元素分析仪 尼通X荧光光谱仪
¥300000Niton手持式矿石分析仪 尼通X荧光光谱仪
¥300000Niton手持式环境分析仪 尼通X荧光光谱仪
¥300000Niton手持式合金分析仪 尼通X荧光光谱仪
¥300000尼通手持式X荧光光谱仪 NitonXRF分析仪
¥300000尼通Niton手持式XRF荧光光谱分析仪
¥300000Niton手持式X荧光光谱仪 尼通XRF分析仪
¥300000奥林巴斯手持式XFRF光谱仪Vanta Element-S
¥500000奥林巴斯手持式XRF 便携式X荧光光谱仪
¥500000奥林巴斯手持式XRF分析仪 X荧光光谱仪
¥500000
一、高灵敏度、高准确度及高精密度
紧凑的HighSense光路
HighSense光路,阳极—样品—探测器之间距离短,信号损失少,保证了高灵敏度
HighSense高稳定性固态发生器
采用新技术模块化设计的固态发生器,稳定性优于±0.00005%,可靠性好。
S8 TIGER 1kW,激发电流50mA,激发电压50kV,同级别中强度高。配有内部水冷机,不需要外部水冷机,插上电源就可以使用。
S8 TIGER 3kW,激发电流150mA,激发电压60kV,强度上堪比传统的4kW荧光仪。
S8 TIGER 4kW,激发电流170mA,激发电压60kV,市场上好的荧光仪。
HighSense低温X射线光管
HighSense超尖锐端窗陶瓷光管,设计功率4200W,设计电压75kV,设计电流200mA。双路水冷系统,除阳极冷却外,光管头部增加特殊冷却回路,避免光管头部热量对样品的影响,提高易挥发元素及低熔点样品测量的稳定性。提高了分析液体样品、低熔点样品的安全性。此外在阴极与铍窗之间增加隔板,避免蒸镀现象,光管强度不衰减。
标配75 μm铍窗,HighSense光管50μm铍窗,强度提高15%,HighSense光管28μm铍窗,超轻元素强度提高50%。HighSense光管铍窗上有保护性涂层,耐腐蚀。
高灵敏度、高稳定性的分光晶体
HighSense系列人工合成晶体,大大提高了轻元素的检测能力,其中:
XS-C显著地降低了背景,提高信噪比30%;
XS-55晶体对O、F、Na、Mg元素的灵敏度也比常规的晶体提高了10%以上;
XS-400晶体与LiF200晶体覆盖的元素相同,但是灵敏度提高了35%;
XS-CEM人工多层膜晶体,测量Al—S间元素具有无以匹敌的长期稳定性,没有PET晶体的潮解现象,没有PET晶体随着时间的推移强度降低的现象,没有其它天然晶体的温度效应。是水泥、玻璃、矿物、采矿、地质、铝业等领域测量主含量Al、Si的晶体;
XS-Ge-C锗弯晶提高P灵敏度40%,提高S灵敏度20%以上;
XS-PET-C弯晶提高Al的灵敏度20%。
HighSenseTM探测器技术及动态匹配TM功能
HighSenseTM流气正比计数器和闪烁计数器,极快的死时间校正,即刻显示PHA扫描图,数字信号传输,线性范围高达4Mcps(线性偏差≤1%)。
动态匹配TM功能,软件自动降低电流,使高含量元素的计数不超过探测器的物理限制,测量更准确,低含量元素自动在满功率条件下测量,使痕量元素也能准确地测量。采用动态匹配功能探测器的高计数率可以达到13Mcps。动态匹配功能可以采用相同的谱线分析样品中从ppm到含量范围的成份。
HighSense高效的微区分析系统XRF2
借助HighSenseTM技术,第二代S8 TIGER能针对小到0.3mm并可选1.25mm的微小区域开展高灵敏度的元素定性、定量、无标样定量及元素分布分析,步长0.1mm。轻元素采用正比探测器,重元素采用闪烁探测器,灵敏度提高10倍,实现了同级别仪器里真正的微区分析。此外,高清摄像头能够对感兴趣区域拍摄图片,保证微区分析的针对性和重现性。
高透光性的真空封挡
在测量液体和松散粉末样品时,程序控制的真空封档将样品室和光谱室分开,允许在固体和液体样品的分析之间快速地切换。由于只有很小的样品室充氦气(氮气),真空封挡显著地降低气体消耗量,同时探测器的稳定性更高,结果的精密度更好。在测量过程中,真空封挡也可以在液体样品泄漏或有粉尘样品时保护光谱室,防止被污染。真空封挡是S8 TIGER的样品保护TM包的一部分。
高精度光学定位测角仪
采用高精度光学定位测角仪,定位精度高,测角仪直接到达预设角度,快速连续前进,无需反复调整,长期运行没有磨损。角度准确度优于±0.001°,角度重现性优于±0.0001°,扫描速度1200°/分钟,转角速度4800°/分钟。
变动理论α系数法
采用基本参数法单独地计算每一个样品的校正系数,从而进行全面的集成的基体效应校正,这就是变动理论α系数法。其显著的优点是:需要的标样量少、校正系数更可靠、校准曲线可以适当延伸、操作方便、不需要很多的经验来选择影响元素、对于大的材料范围和很宽的浓度范围都可以得到可靠的结果。同时兼容固定理论α系数法、经验α系数法基体效应校正,三种校正模式也可以混合使用。对于固定理论α系数法、变动理论α系数法、经验系数法及混合校正方法只需一个用户界面解决所有问题,非常易于使用。
未知烧失量校正
对于烧失量或烧增量很大的样品,通常的做法是将样品预先灼烧,然后根据烧失量进行反算或将烧失量输入到基体校正公式进行校正,分析全铁的时候还有用钴做内标的。布鲁克未知烧失量校正功能不用测量烧失量,软件会根据其它分析成分估算一个LOI,然后经过多次迭代和拟合,无需知道烧失量也可以进行准确的烧失量校正,大大地提高了分析速度也节约了分析成本。
角度偏移校正
校正价态、矿源差异等引起的峰位位移,测量结果更准确。
几何校正
通过直径–厚度–密度、直径–厚度–质量或直径–质量–密度三种样品制备选项对未达到X射线穿透饱和深度的样品进行几何校正,从而得到更准确的测量结果。
制样校正软件
对用熔融制样或粉末样需加粘合剂的制样方法,采用任意配比、随意称量、准确输入的方法,称样误差小,称样速度快,不同的制样方法可以共用同一工作曲线。
P10气体密度稳定器
在P10气体钢瓶与流气正比计数器之间安装有气体密度稳定器,使探测器里的气体密度始终保持恒定,保证测量结果精密度更高。流气计数器采用数字式压力控制,控制更精密。
高稳定性的光谱室
光谱室温度稳定性优于±0.05℃,避免了温度变化引起分光晶体的面间距变化,从而引起被测量元素光子衍射角度的变化。
采用真空度控制测量
对于固体样品,采用真空度控制测量,只有达到预设的真空度才开始测量,避免了吸潮样品在测试阶段真空度的不一致引起强度计数的差异。