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UV-A紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，UV-A紫外辐照计外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
UV-A紫外辐照计产品特点:
光谱及角度特性经严格校正
数字液晶显示，带背光
手动/自动量程切换数字输出接口（USB冗余供电）
低电量提醒
自动延时关机
有数字保持
轻触按键操作，蜂鸣提示
UV-A紫外辐照计主要技术指标:
探头（二选其一）： | UV-420nm 探头 | UV-365nm 探头 |
波长范围及峰值波长: | λ：(375～475)nm；λP＝420nm | λ：(320～400)nm；λP＝365nm |
紫外带外区杂光： | UV420：小于0.02% | UV365：小于0.02% |
辐照度测量范围： | (0.1～199.9×103) μW/cm2 | |
相对示值误差： | ±10%（相对与NIM标准） | |
角度响应特性： | ±5%(α ≤10°) | |
线性误差： | ±1% | |
短期不稳定性： | ±1%（开机30min后） | |
响应时间： | 1秒 | |
使用环境： | 温度(0～40)℃，湿度＜85%RH | |
尺寸和重量： | 160mm×78mm×43mm；0.2kg | |
电源： | 常规使用6F22型9V积层电池一只 | |
