昕锐X1200Pro测距仪

昕锐X1200Pro测距仪技术参数

激光测距仪测量法具有以下优点。

　　①基于向物体发射能量，不存在盲区(Missing part)。

　　②对物体表面性质(颜色、质地、纹理)不加限制。

　　③可直接进行测量。

　　④无需取得图像及对图像作分析处理。

969年，Hildebrand和Haines从相干光学的观点出发，提出了一种采用双波长光源的全信息等高技术。它可以在物体上生成等高线，等高线的分辨率取决于光源波长，且不能任意变化。Hildebrand和Haines提出的另一种方法是由两个具有不同波长的点光源产生的干涉条纹在物体上生成等高线，与种方法相比，第二种方法产生的等高线图的分辨率可以从波长级变化到忽米级。对于双光源系统来说，其主要问题是，若物体上有一些“漩涡花样”，特定区域将不能清晰地描绘出全息等高图。相关测量法对测量环境要求*，一般只能在实验室条件下测量，且不易于实现自动化。