落镖式冲击试验机
落镖式冲击试验机
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FDI-10落镖式冲击试验机

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-11-22 19:04:24
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属性:
价格区间:2万-5万;仪器种类:落锤冲击试验机;应用领域:医疗卫生,食品,文体,电子,印刷包装;外形尺寸:450mm(L)×450mm(B)×1365mm(H);重量: 58kg;电源: 220V,50Hz;
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产品属性
价格区间
2万-5万
仪器种类
落锤冲击试验机
应用领域
医疗卫生,食品,文体,电子,印刷包装
外形尺寸
450mm(L)×450mm(B)×1365mm(H)
重量
58kg
电源
220V,50Hz
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济南竹岩仪器设备有限公司

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产品简介

落镖式冲击试验机适用于塑料薄膜、薄片等材料在自由落镖冲击下,破损冲击质量和冲击能量的测定。

详细介绍


落镖式冲击试验机适用于塑料薄膜、薄片等材料在自由落镖冲击下,破损冲击质量和冲击能量的测定。
 

应用范围
 
落镖式冲击试验机用于测定耐冲击的薄膜材料、柔性材料等,如塑料薄膜、塑化纸、和复合材料等,按照《GB-T 9639.1-2008塑料薄膜和薄片 抗冲击性能试验方法 自由落镖法 第1部分:梯级法》设计生产,满足方法A和方法B两种测试方法。
该产品广泛用于塑料薄膜生产企业、药包材生产企业、制药企业、国家质检系统、第三方检测机构、大中专院校、科研院所等单位。
 落镖冲击检测 落镖冲击测试

主要特点
⦁ 智能化嵌入式操作系统,人性化界面设计,触控操作,所见即所得;
⦁ 7英寸彩色液晶触摸显示屏,高清显示效果,清晰明亮;
⦁ 试样气动夹持;
⦁ A法试验、B法试验;
⦁ 镖头电磁吸附,自动释放,定心准确,可避免人工释放带来的抖动偏差;
⦁ 配置脚踏开关,落镖、试验脚踏即可触发动作;
⦁ 系统自动判断试验状态,自动计算试验结果;
⦁ 标准配置微型打印机,随时打印实验数据;
⦁ 标准RS232数据通信接口,方便数据导出与外部连接;
⦁ 支持GB, ASTM, ISO等多重测试标准;
⦁ 可支持计算机软件,测试结果图形显示、输出、打印;
 

技术指标
测试方法                     A法、B法
测试范围 A 法:           50~2000g B 法:300~2000g
测试精度                      0.1g(0.1J)
试样装夹方式                   气动
气源压力                      不大于 0.85MPa(气源用户自备)
试样尺寸                      150mm×150mm(标配夹具)
试样厚度                       0~8mm(标配夹具)
外形尺寸 A 法:            450mm(L)×450mm(B)×1365mm(H);
B 法:                          450mm(L)×450mm(B)×2160mm(H)
电源 AC                         220V,50Hz
净重                                    58kg
 

执行标准
GB 9639、ASTM D1709、JIS K7124等;
 

产品配置
标准配置 A 法配置、触摸显示屏、微型打印机、脚踏开关主机、标准夹具、50N传感器、500N传感器、通信数据线;
选购件 B 法配置、防护辅具、计算机数据管理系统
 

 

 

   测试技术作为获取信息的手段之一, 是一门与计量科学和产品质量紧密相关的科学, 是仪器仪表和测试手段的结合, 是人们认识和改造自然的一种*的手段。仪器设备的不断精密和复杂化对测试系统提出了更高的要求, 促进了测试系统的不断发展。测量技术根据仪器的发展大致可分为五代:模拟仪器技术、数字仪器技术、智能仪器技术、虚拟仪器技术及IVI技术。
模拟仪器现在已经很少被运用到了, 只能在某些实验室才能被看到。如指针式万用表、晶体管电压表等。他们的基本结构是电磁机械式的, 借助指针来显示测试结果。
数字仪器现在还被广泛应用在一些简单设备的测量中, 如数字电压表、数字频率计等, 这类仪器将模拟信号的测量转化为数字信号测量, 并以数字方式输出结果。
20世纪70年代以来, 随着微处理器和计算机技术的发展, 微处理器和计算机被越来越多的嵌入到测量仪器中构成了所谓的智能仪器。智能仪器是测试技术由人工测试迈向自动测试的重要一步, 从此测试技术与计算机技术紧密的联系起来了。
与模拟仪器和数字仪器相比,智能仪器内置微处理器,既能进行自动测试又具有一定的数据处理能力,可取代部分脑力劳动,同时具有快速响应和较高准确性的优点。
但是它的功能模块全部都是以硬件或固化的软件的形式存在的,缺乏灵活性。随着设备复杂性的不断提高,测试系统也变得越来越复杂。一方面,一个测试系统中经常会出现多台带有微机的仪器与PC机同时使用,但又不能相互补充和替代,造成了资源的极大浪费。另一方面,由这类仪器搭建的测试系统一般都是系统,一旦其被测对象退役,为其服务的一大批测试系统也随之报废。

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