X荧光光谱仪 元素含量分析及镀层测厚仪是一种光谱分析仪，手持式金属分析仪体积小重量轻，方便携带，适合现场进行检测分析。具有快速测试，分析准确，质量耐用等优势，适合于金属回收，金属冶炼，金属制品，合金材料，有色金属，三元催化，锂电池回收，不锈钢行业，铜合金行业等。

X荧光光谱仪 元素含量分析及镀层测厚仪1、适用于各种纯铜、铸造铜合金、铜合金材料中的铜、铁、锡、锌、铅、锰、镍、磷、硅等元素测定
2、采用新有色金属分析技术，为有色金属（冶炼）加工企业而量身设定，可直接分析出铜合金中铜的全含量。
3、采用精密触摸键盘，32键音响提示，设计多种快捷功能键，操作*为简便;
4、采用微机控制及数据处理，含量数显直读，仪器内置微型打印机，结果自动打印（包括日期、元素符号、含量、吸光度）;
5、仪器设计合理，变更单色光源、比色杯、,称样量可扩展测量元素和扩大含量范围。
在贵金属行业 可检测饰、珠宝、黄金等饰品中的Au,Ag,Cd,Co,Cr,Cu,Fe,In,Ir,Mn,Ni,Pb,Pd,Pt,Rh,Ru,Sb,Sn,Ti,Zn等元素，手持式金属分析仪提供了一个准确和可靠的解决方案进行分析黄金和其他贵重金属样品的工具。可以方便地测量仪的珠宝样品的形状和大小。操作简单，无损，是分析黄金和其他贵金属的理想工具。

开放式工作曲线，可以根据需求建立新工作区
经验系数法和基本参数法相结合
测试样品：各种不同形状样品，满足大样品测试需求
性能：迷宫式设计，达到辐射指标
测试操作简单，实现傻瓜式操作模式
报告模板多样化，适应各种测试需求
具有时间显示功能，可实现自动将检测样品时间记录与保存。
可储存百万组测试数据（将检测样品时间、地点、各类养分结果）等相关信息存储下来，数据可随时调出查看。
可打印出检测日期、样品编号，检测项目、样品含量等相关信息，内容详细丰富。
采用液晶高清彩色屏幕背光显示，中文菜单提示操作，操作流程。
测试过程中具有回看功能，因此使产品*加具有方便性和合理性。
便捷：电脑一体机、集成工业计算机，双触摸屏显示设计，操作流畅便捷
快速：3秒内可对样品定性识别，60秒内可得出测试结果
直观：高清晰图形即时显示，检测结果直观明了
：加装防装置，主动保护操作人员
经济：价格便宜，测试过程基本不需要任何耗材

便携金属合金分析仪器是一种XRF光谱分析技术，X光管产生的X射线打到被测样品时可以击出原子的内层电子，出现壳层空穴，当外层电子从高轨道跃迁到低能轨道来填充轨道空穴时，就会产生特征X射线。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特征信息。

仪器特点：