徕卡DM3 XL微电子和半导体工业显微镜凭借大视场帮助您的团队更快地识别缺陷，丰富的配置和优秀光学质量，提高您的收益率，充分体现德系工艺的水准。

在微电子和半导体行业中，检验、过程控制或缺陷和故障分析的速度至关重要。DM3 XL微电子和半导体显微镜检测缺陷的速度越快，您做出响应的速度也就越快。

DM3 XL检验系统凭借大视场帮助您的团队更快地识别缺陷，提高您的收益率。充分利用*的宏观物镜，视场宽敞30%。

徕卡DM3 XL微电子和半导体工业显微镜产品特点：

更多细节

使用DM3 XL显微镜能看到更多细节，这也意味着工作更高效。为快速扫描达到6"的大组件，DM3 XL提供*的宏观物镜。利用0.7x放大倍率，它可以即刻采集35.7mm的视场–比其他常规扫描物镜宽敞30%，在宏观物镜下，缺陷无所遁形

LED照明

徕卡DM3 XL针对所有相衬观察方法使用LED照明。LED照明可提供恒定的色温，并在所有亮度等级下提供真彩色成像。在所有亮度等级下实现真彩色成像,自由调节,无需更换灯泡–无停机时间,可复制的结果,由于LED使用寿命长，耗电量低，因此还具有巨大的成本节约潜力。

种类丰富的载物台

无论您想要检验的样品是哪种类型，尺寸如何，Leica DM3 XL均有种类丰富的载物台插件供您选择：载物台尺寸：150mmx150mm,载物台插件：金属插件、晶片支座或掩模支座,快速的粗略或精准载物台定位。