产品名称：手持式四探针测试仪 产品型号：M-3

手持式四探针测试仪型号：M-3

M-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。 
仪器成套组成：由M-3主机、选配的四探针探头等二部分组成，也可加配测试台。 
仪器所有参数设定、功能转换全部采用轻触按键输入；具有零位、满度自校功能；手动/自动转换量程可选；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！ 
探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。  
详见《四探针探头特点与选型参考》点击进入 
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。  
仪器于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。

4) 适配器工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或电池供电

5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

净   重：≤0.3kg

  
三、基本技术参数 
1. 测量范围、分辨率

电    阻：     0.010Ω ～ 50.00kΩ,     分辨率0.001Ω ～ 10 Ω 
电 阻 率：     0.010Ω-cm～ 20.00kΩ-cm， 分辨率0.001Ω ～ 10 Ω-cm 
方块电阻：     0.050Ω/□ ～ 100.00kΩ/□   分辨率0.001Ω ～ 10 Ω/□  
2. 可测材料尺寸 
手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下： 
直    径：SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm。停产 
SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。 
长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm。. 
测量方位: 轴向、径向均可. 
3. 量程划分及误差等级

产品名称：标准自动振筛机 自动振筛机 产品型号：XSB-70

标准自动振筛机 自动振筛机型号：XSB-70

该系列产品是与中国标准筛配置使用的精密筛分试样设备，*符合国标《GB474-1996煤样的制备方法》《GB1997-89焦炭试样的采取和制备》各项要求。
主要特点：
XSB-70型具备圆周摆动，上下振击双重运动；
主要部件改用40cr优质铬钢，抗研磨、抗撞击，确保精确度和使用寿命。筛分能力强，消除人工筛分误差，可定时控制。吸收德国技术，结构坚实、巧妙、合理、造型美、筛分快、数据准、性能稳、噪音低、体积小、易操作、易维护。
主要技术指标

	项目		单位		XSZ-70
	筛子直径		mm		Ø200
	圆周摆动频率		次/min		220
	上下振击频率		次/min		149
	回转半径		mm		12。5
	振击幅度		mm		3－4
	定时控制		min		0－15
	功率		KW		0。37
	外形尺寸		mm		550×380×735
	质量（重量）		kg		－110