赛默飞Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪
赛默飞Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪

赛默飞Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-02-21 10:26:50
966
属性:
窗口类型:-;分辨率:-eV;峰背比:-;价格区间:40万-50万;探测器类:锂漂移硅探测器Si(Li);探测器面积:-mm;仪器种类:进口;应用领域:环保,化工,生物产业,石油,制药;最大计数率:-cps;
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产品属性
窗口类型
-
分辨率
-eV
峰背比
-
价格区间
40万-50万
探测器类
锂漂移硅探测器Si(Li)
探测器面积
-mm
仪器种类
进口
应用领域
环保,化工,生物产业,石油,制药
最大计数率
-cps
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上海硅仪生化科技有限公司

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产品简介

赛默飞Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪可进行全自动、高通量的表面分析,提供用于推进研发或解决生产问题的数据。 集成 XPS 与离子散射谱(ISS)、紫外光电子能谱 (UPS)、反射电子能量损失谱(REELS)和拉曼光谱,让您进行真正的联用分析。

详细介绍

赛默飞Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪标准化性能: 

·         绝缘体分析

·         高性能XPS性能

·         深度剖析

·         多技术联合

·         双模式离子源,使深度剖析功能得到扩展

·         用于 ARXPS 测量的倾斜模块

·         用于仪器控制、数据处理和报告生产的 Avantage 软件

·         小束斑分析

可选的升级:可将多种分析技术集成到您的检测分析中。式自动运行

·         ISS:离子散射谱,分析材料表面1-2原子层元素信息,通过质量分辨可分析一些同位素丰度信息。

·         UPS:紫外光电子能谱用于分析金属/半导体材料的价带能级结构信息以及材料表面功函数信息

·         拉曼:拉曼光谱技术用于提供分子结构层面的指纹信息

·         REELS:反射电子能量损失谱可用于H元素含量的检测以及材料能级结构和带隙信息

 

赛默飞Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪应用领域 

·         电池

·         生物医药

·         催化剂

·         陶瓷

·         玻璃涂层

·         石墨烯

·         金属和氧化物

·         纳米材料

·         OLED

·         聚合物

·         半导体

·         太阳能电池

·         薄膜


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