传输线脉冲发生测试系统是一种*的Ⅳ曲线特性测量系统，设计成用来模拟ESD事件，并在高功率时域范围内监控器件（半导体，电路模块等）的响应，能够实现纳秒级别ESD脉冲的产生、测量，能够测量被测器件的ESD时域响应波形，能够跟踪测量记录被测器件在TLP测试每个阶段的直流特性。

设备原理：传输线脉冲发生器产生并发出一个矩形波脉冲，通过信号传输同轴线缆施加到被测半导体器件，示波器连接电压和电流测量装置来捕捉器件端的电压和电流时域波形，再将测量到的数据传回到系统测试软件，实现数据的自动分析。

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