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三丰数据线02AZD790F
面议Mitutoyo三丰542-190 LG100-110光栅测微仪
面议542-191 LG100-0510光栅测微仪Mitutoyo三丰
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面议日本三丰显微镜VMU-V 378-505
使用示例:半导体、电子、液晶相关等产品的生产 品质管理系统、实验研究装置使用的光学系统 外观检查系统的嵌入式光学单元 微生物等运动物体的观察 等
可安装数码相机,通过外部显示器进行观察和拍摄。 可实现横向水平、上下颠倒等高自由度的固定方法。 与简易支架一起使用,还可作为紧凑型显微镜使用。 ★金属、树脂、印刷面等表面观察拍摄 ★微量流体分析用光学系统 ★以观察和分析细胞、微生物等为目的的光学系统
VMU
378 系列 — 视频显微镜系统
显微镜单元 物镜(紫外、近紫外、可视、近红外)
紧凑轻量型显微镜,相机观察型。适于
检测金属表面、半导体、液晶面板、树脂等。
• 多种镜体通常用作适用于专业器械的OEM
(原厂委制) 产品,如那些利用YAG (近红外、
可见、近紫外或紫外) 激光* 对半导体晶片
进行检测和修补的设备。
* 不保证激光系统产品的性能和安全性。
应用:切割、修整、校正、 给半导体电路做
标记/ 薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色
滤光器的修复 (校正错误)。还可用作光学观
察剖面图以便探头分析半导体故障。
• 对于VMU-LB 和 VMU-LB, 显微镜主件的刚度
和总体性能与之前的型号相比已有所提高。
• 应用*: 晶体硅的内部观察、红外光谱特征
分析等。
* 需要红外光源和红外摄像机。
• 配有孔径光阑的远心光学系统是表面照明
光学系统上的标准配件。于需要均匀
照明的图像处理。可用于尺寸测量、形状
检验、定位等。
• 设计和制造均能满足您的需求,如双摄影
机架、双(低/ 高) 放大率观察
VMU-V
378-505
Mitutoyo三丰显微镜单元
日本三丰物镜(紫外、近紫外、可视、近红外)
用于半导体、电子、液晶相关等产品的生产
品质管理系统、实验研究装置使用的光学系统
外观检查系统的嵌入式光学单元
微生物等运动物体的观察 等
可安装数码相机,通过外部显示器进行观察和拍摄。
可实现横向水平、上下颠倒等高自由度的固定方法。
与简易支架一起使用,还可作为紧凑型显微镜使用。
★金属、树脂、印刷面等表面观察拍摄
★微量流体分析用光学系统
★以观察和分析细胞、微生物等为目的的光学系统
M Plan Apo NIR系列等支持红外区的物镜组合,可在红外线下实
现可见光下做不到的非破坏性检查。
★液晶薄膜、硅基板等的厚度测量
★MEMS内部的非破坏评价、三维安装评价
★半导体封装(IC)的内部观察、晶圆键合空洞评价传感器
★红外分光特性分析
通过VMU-LB和固定倍率观察用相机卡口的
组合,能够对同一位置以不同倍率同时观
察。
(低倍率侧:2/3型、高倍率侧:1/2型等)
通过与YAG激光(1064nm、532nm、355nm、266nm)物镜组合,可实现高精度、高
品质加工。
与简易支架一起使用,还可作为紧凑型显微镜使用。
★保护膜、有机薄膜等的剥离
★金、铝等金属配线切割、下层图案的外露
★FPD的各种缺陷修正
★光掩模修正
★标记、修剪、图像形成、局部退火、划线
凭借长动作距离设计的物镜,实现优异的操作性。
与定位器、探针台等组合。
通过与激光加工装置组合,还可支持不良分析→部分修正无缝衔接的系统。
此外,还提供支持隔着玻璃的、真空内的外观检查的系统
日本三丰Mitutoyo 378-888-6物镜M Plan Apo NUV HR 50X
日本三丰Mitutoyo 378-868-5 50X物镜M Plan Apo NIR B
日本三丰Mitutoyo 378-867-5 20X物镜M Plan Apo NIR B
日本三丰Mitutoyo 378-864-5 100X物镜M Plan Apo NIR HR
日本三丰Mitutoyo 378-863-5 50X物镜M Plan Apo NIR HR
日本三丰Mitutoyo 378-848-3 50X物镜G Plan Apo
日本三丰Mitutoyo 378-847 20X物镜G Plan Apo
日本三丰Mitutoyo 378-846-7 100X物镜BD Plan Apo HR
日本三丰Mitutoyo 378-845-7 50X物镜BD Plan Apo HR
日本三丰Mitutoyo 378-844-15物镜M Plan UV 10X
日本三丰Mitutoyo 378-843-7 100X物镜BD Plan Apo SL
日本三丰Mitutoyo 378-843-5 100X物镜BD Plan Apo SL
日本三丰Mitutoyo 378-842-7 80X物镜BD Plan Apo SL
日本三丰Mitutoyo 378-841-7 50X物镜BD Plan Apo SL
日本三丰Mitutoyo 378-840-7 20X物镜BD Plan Apo SL
日本三丰Mitutoyo 378-840-5 20X物镜BD Plan Apo SL
日本三丰Mitutoyo 378-839-5物镜M Plan UV 80X
日本三丰Mitutoyo 378-838-8物镜M Plan UV 50X
日本三丰Mitutoyo 378-837-8物镜M Plan UV 20X
日本三丰Mitutoyo 378-837-7物镜M PLAN UV BF 20X
日本三丰Mitutoyo 378-836-7 100X物镜BD Plan Apo
日本三丰Mitutoyo 378-835-7 50X物镜BD Plan Apo
日本三丰Mitutoyo 378-834-7 20X物镜BD Plan Apo
日本三丰Mitutoyo 378-833-7 10X物镜BD Plan Apo
日本三丰Mitutoyo 378-832-7 5X物镜BD Plan Apo
日本三丰Mitutoyo 378-831-7 2X物镜BD Plan Apo
日本三丰Mitutoyo 378-830-7 7.5X物镜BD Plan Apo
日本三丰Mitutoyo 378-829-5物镜LCD Plan Apo NIR 100X
日本三丰Mitutoyo 378-828-5物镜LCD Plan Apo NIR 50X
日本三丰Mitutoyo 378-827-5物镜LCD Plan Apo NIR 20X
日本三丰Mitutoyo 378-826-5物镜M Plan Apo NIR 100X
日本三丰Mitutoyo 378-824-5 20X物镜M Plan Apo NIR
日本三丰Mitutoyo 378-823-5 10X物镜M Plan Apo NIR
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Hioki测试线L2233
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