β射线胶片测厚仪BTC-221

新系统可实现从薄到厚的高精度测量

·使用PC大大提高了操作能力和功能· 
从薄到厚的高精度
测量
· 也可以在小面积部分进行测量·特殊校准曲线易于编程
·计数校正易于预热GM管没必要

Beta-Beam测厚仪BTC-221的特点

大大提高了可操作性和功能

使用个人计算机可以大大提高可操作性和功能。

从薄到厚的测量

通过改变辐射源，可以高精度地从薄膜厚度到高厚度进行测量。

也可以测量小面积

也可以通过更换面罩来测量小面积。有各种口罩可供选择。

轻松编程特殊校准曲线

多点校准输入（2至9点）可轻松编程特殊校准曲线。

轻松计数校正

可以在任何时间进行计数校正，并且可以在不加热GM管的情况下进行测量。

多40条校准曲线用于测量

多可存储40条校准曲线。存储的校准曲线可以复制到其他通道。

校准曲线可以通过材料的一点校正来重新校准

校准曲线可以通过材料的一点校正来重新校准。

设定上限值和下限值

您可以设置有效测量值的上限​​值和下限值。

测量膜厚度和组成比

合金膜可以测量膜厚度值和组成比。

管内测量φ80mm或更高

如果φ80mm或更大，则可以在管道中进行测量。

可以随时删除由于测量误差导致的薄膜厚度值

可以随时删除由测量误差引起的膜厚度值。

时间和单位可以任意设定

测量时间可以任意设置1至999秒。测量单位：μm，MI，mil，成分％，计数％单位可以随时更改，测量值自动转换。

用于β射线胶片测厚仪BTC-221的特殊配件

探针指南 MS-11	探针系统 H-5	探头指南RE-5  120°	探头指南RE-5  180°（带刻度）

测量原理

当用β辐射照射物质时，部分被吸收而部分被透射。有些也是透明的。一些向后散射，剂量取决于材料的厚度和核外电子的数量（电子数）。随着厚度增​​加，后向散射量增加（或减少）直到达到饱和厚度，其中无法检测到剂量增加，因此可以通过比较基板的后向散射量与膜的后向散射量来测量厚度。你。 
因此，基板与膜之间的原子序数差越大，测量精度越高，原子序数差越小，测量精度越低。如果原子序数的差异至少为10％，则可以测量该膜。

Beta厚度计BTC-221的规格

注意：规格如有更改，恕不另行通知。

日本电测膜厚计BTC-221 日本电测膜厚计BTC-221

TQ-50NG16

TQ-100NG16

TQ-150NG16

TQ-200NG16

TQ-300NG16

TQ-500NG16

TQ-1KNG16

TQ-1.5KNG16

TQ-2KNG16

TQ-3KNG16

TQ-4KNG16

TQ-5KNG16

TQ-7KNG16

TQ-10KNG16

TQR-200MNA32

TQR-500MNA32

TQR-1NA32

TQR-2NA32

TQR-3NA32

TQR-5NA32

TQT-2NB57M2G4

TQT-5NB57M2G4

TQT-10NB57M2G4

TQT-20NB57M2G4

TQT-30NB57M2G4

TQT-50NB57M2G4

TQT-70NB57M2G4

LC-10KNE450

LC-20KNE450

LT-5KNG56

LT-10KNG56

LT-20KN

PG-200MPG7

PG-300MPG7

PG-400MPG7