菲希尔XDV-u X射线荧光镀层测厚仪

菲希尔XDV-u X射线荧光镀层测厚仪

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2022-11-01 21:58:26
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苏州英莳特仪器科技有限公司

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产品简介

菲希尔XDV-u X射线荧光镀层测厚仪,X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,*多毛细孔X 射线光学系统设计,可自动测量和分析微小部件及结构上镀层厚度和成分。

详细介绍

菲希尔XDV-u X射线荧光镀层测厚仪

X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,*多毛细孔X 射线光学系统设计,可自动测量和分析微小部件及结构上镀层厚度和成分。

FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV-μ®是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于无损分析和测量极微小部件上镀层的厚度,即使是复杂的镀层结构,也同样应付自如。

为了使每次测量都能在条件下进行,XDV-μ 配备了各种可电动切换的基本滤片。良好的硅漂移接收器能够达到很高的分析精度及探测灵敏度。由于采用了开创性的多毛细管 X 射线光学系统设计,本款仪器能在极其微小的测量面积上产生非常高的激发强度。

出色的准确性及长期的稳定性是 FISCHER X 射线仪器的共有特点,因此也大大减少了重新校准仪器的需要,为您节省时间和精力。

由于采用了 FISCHER 的*基本参数法,无论是镀层系统还是固体样品,都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。

仪器可以选配一个大面积的工作台,用以配合对大型印制电路板进行测量。

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ 是一款界面友好的台式测量仪器。它配备了高精度、可编程运行的 X/Y 轴工作台和马达驱动的 Z 轴升降台。侧面开槽的设计,可测量面积更大的工件,如印制电路板等。当外保护面罩开启时,样品台能自动移出到放置样品的位置。

通过激光点,可以快速对准需要测量的位置。仪器内置高分辨率彩色摄像头,简化了对测量点进行精确对位的过程。

菲希尔XDV-u X射线荧光镀层测厚仪

所有的仪器操作,以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示,都可以通过功能强大而界面友好的 WinFTM®软件在电脑上完成。

多可同时测定从铝(13)到铀(92)中的24 种元素

测量门向上开启的台式仪器,侧面开槽设计。

马达驱动、可编程运行的 X/Y 轴工作和 Z 轴升降台 

马达驱动、可切换的准直器和基本滤片。

配备三挡高压和4个可切换的基本滤片。

可按要求,提供额外的XDV型产品更改和XDV仪器技术咨询

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