菲希尔XDLM系列X射线荧光镀层测厚仪是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。这款仪器专门是为测量超薄镀层和微含量而设计，是用于质量控制，质量检验和生产监控的合适的测量仪器。

菲希尔XDLM系列 X射线荧光镀层测厚仪

　　FISCHERSCOPE X-RAY XDLM设计为界面友好的台式测量仪器系列。根据不同的预期用途，有不同的版本。

　　XDLM 231型的工作台为固定式工作台，马达驱动的Z轴升降系统。

　　XDLM 232型配有可手动操控的X/Y工作台，马达驱动的Z轴升降系统。

　　XDLM 237型则配备了马达驱动的X/Y工作台，当保护门开启时，工作台会自动移到放置样品的位置。马达驱动的可编程Z轴升降系统。

　　XDLM系列仪器带有4个可切换准直器，3种可切换的基本滤片，采用比例接收器，测量距离为0-80mm。

　　使用高分辨率的CCD彩色摄像头；

　　仪器重量100kg-120kg；

　　仪器使用时温度范围10℃-40℃，空气相对湿度为≤95%，无结露；

　　计算机要求：带扩展卡的计算机系统；

　　可按要求，提供额外的XDLM型产品更改和XDLM仪器技术咨询。