日立高新场发射扫描电子显微镜SU8200系列
日立高新场发射扫描电子显微镜SU8200系列（HITACHI UHR FE-SEM SU8200 Series，SU8220，SU8230，SU8240）采用日立高新技术公司开发的冷场电子枪，实现超高分辨率下观察的同时，稳定的束流亦可满足长时间下的分析需求。在日立高新的新型冷场发射扫描电镜(FE-SEM)SU8200系列中，有SU8220、SU8230、SU8240三款机型，于5月20日开始发售。

日立新研发的冷场电子枪

　　•利用电子枪轰击后的高亮度稳定期，高分辨观察和分析兼顾

　　•大幅提高分辨率(1.1nm/1kV、0.8nm/15kV)

　　•减轻污染的高真空样品仓

　　•通过顶部过滤器(选配项)实现多种材料对比度可视化
日立SU8220 在油墨观测分析中的应用
打印机墨粉的微观结构及形状等直接影响着打印质量，因此它受到广泛的研究关注。利用日立场发射扫描电镜SU8220观测的墨粉颗粒，不仅可直接观测到表面的细节形貌及成分衬度。搭载能谱分析还能分析油墨表面的成分。
日立场发射扫描电子显微镜用SU8220系列观察太阳能薄膜电池
铜铟镓硒薄膜太阳能电池板以其高转换率和低成本备受期待。 由于各层的颗粒尺寸和层结构质量会影响发电表现，因此用SEM观察断面结构非常重要。

　【主要特点】  

　日立高新新研发的冷场电子枪

　　•利用电子枪轰击后的高亮度稳定期，高分辨观察和分析兼顾

　　•大幅提高分辨率(1.1nm/1kV、0.8nm/15kV)

　　•减轻污染的高真空样品仓

　　•通过顶部过滤器(选配项)实现多种材料对比度可视化