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美国泰克Tektronix误码率测试仪
BERTScope BSX 系列误码率测试仪引入了能够支持第四代及以上新兴标准的接收机测试平台。通过增加强大的数据处理和内置发射机均衡技术，BERTScope 支持基于协议的握手功能，并与被测器件 (DUT) 同步，包括交互式链路训练，支持32 Gb/s 的数据速率。BSX 系列缩短了调试物理层和链路训练问题所需的时间，为满足各种标准提供了较快速的途径。
欧盟客户通知
本产品尚未更新以符合 RoHS 2 指令 2011/65 / EU 要求，且将不会发货至欧盟。在 2017 年 7 月 22 日前，客户可以通过欧盟市场的库存购买产品直至库存shou罄。泰克致力于为您提供所需的解决方案。请联系您的当地销售代表以获取进一步帮助，或确定是否有可用的替代产品。泰克将继续为范围内仍享受质保支持的产品提供服务。
主要性能指标
主要特点
应用
美国泰克Tektronix误码率测试仪
智能内存排序
由于面向位的内存排序模式和协议识别内存排序模式，另外由于能够根据用户自定义检测器码型匹配情况推进排序器，BSX 系列允许用户创建自己的基于协议的码型和握手序列。
码型内存排序器
BSX系列内存排序器可以灵活地间接接入码型内存。码型内存可以支持两级循环嵌套，每个循环高达100万次迭代。用户可以通过多种手段控制与测试设备的握手。为进一步简化编程，提高内存效率，各个码型段可以是大于128位的任意尺寸。内存序列推进可以由软件控制、外部信号或检测器码型匹配来控制、外部信号或检测器码型匹配来控制，用户可以通过多种手段控制与测试设备的握手。
内存排序器模式
为了能让用户更灵活、更简便地创建和检测码型和序列，我们提供了两种不同的排序器模式，两种模式都支持上面介绍的环路和序列推进功能：
用户可以以“自然”格式输入内存数据。注意，可以实现排序器状态之间的跳转，而不会出现数据“缝补”问题，因为排序器会保持加扰 /DC 均衡状态。
检测器码型匹配
BSX 系列支持选配的用户自定义检测器码型匹配功能，可以用来推进发生器排序器状态。这种功能实现了灵活的激励/响应编程能力，支持调试协议和专有协议。与内存排序器一样，码型匹配支持两种模式：
协议块/符号过滤
支持的协议植入了时钟补偿(跳跃)和码组/符号过滤功能，独立时钟操作通常要求这些功能。检测器中的协议过滤拨码会在原始码流与BER测量过滤后的码流之间切换。
码型排序器编辑器
BSX 系列引入了一种新的码型编辑器，这种码型编辑器能够支持面向位的码型和协议识别码型，并支持码型序列创建功能。
序列编辑器
在协议识别排序器模式中，编辑器将发生器码型内存中的符号协议消息转换成协议特定数据块（没有任何变换）。随后由协议特定内存排序器处理这些数据块。这简化了复杂协议数据流的生成过程。
排序器
多域观测
眼图一直作为系统性能简单、直观的表现，但是很难和BER性能联系起来，因为测试仪器从根本上有很大的差别。示波器测量的眼图是由较少的测试样本组成，不容易发现一些罕见偶发的事件。误码仪 (BERT) 能够对每一个比特计数，因此能够提供基于很大量数据集样本的测试，但是测试结果缺乏对信息的直观的表征和故障排查。
BERTScope 结合两者的优势，允许快速、简单的观测眼图，并比传统的眼图测试样本多至少多两个数量级。可以按照上图的例子中所示的那样，通过简单的移动 BERT 的采样点，将光标放在感兴趣的地方，使用强大的误码分析能力，获得更多更深入的信息。例如，检查码型对当前上升沿影响的敏感程度。或者，使用一键式 BER Contour 测量，检验是否性能问题是有界的，或者可能会导致哪些故障。在每一个例子里，测试样本码型可以是 231-1 的伪随机码，可以帮助建立模型或者故障定位。
数据丰富的眼图
正如前面所示，BERTScope在测量数据样本深度方面与传统的眼图测试有着巨大的差异。这个差异意味着你能看到更加真实的情况，无论是什么样的系统，更多低概率事件将会随着每次长数据码型运行而出现，不管是有随机噪声，还是从VCO引起的随机抖动。通过一键式的BER轮廓、抖动峰值和Q-因子测试，能够增加对系统更深层次的认识，增加对设计的信心。
深度模板测试
由于能够改变采样深度，可以非常方便地在深测量与浅测量之间移动，前者可以更准确地查看实际系统性能，后者则与采样示波器配套使用。下面所示的测量来自光接收机的眼图。通过把 BERTScope采样深度设置成仅3000个波形，BERTScope在短短1秒钟内生成中间所示的图形。测得的20%的模板余量与采样示波器上进行的同一测量精确相关。下方图形显示了同一设备生成的眼图，其使用*性廓线在1 x 10-6的BER下测得。这里的模板余量下降到17%。
眼图测试样本深度优势至少是模板测试的10倍。不像其他误码仪提供的“伪”模板测试那样，BERTScope能对模板边沿的每一个样点进行采样，包括在眼图之上和之下的区域。不仅如此，每一个点都能看到之前从未看到过的深度。这意味着既是使用工业标准化模板或自定义模板持续测试几秒，也能确保被测设备没有隐藏的问题。
为行业标准提供高精度的抖动测试
无论测试码型的长短，靠推算得到抖动结果得方法是不能达到抖动测量精度的。BERTScope 能快速测量误码率水平为 1x10-9（高速信号可达 1x10-10），或者等待仪器直接测量到 1x10-12水平。对于这两种测试方法，BERTScope 的一键式测量都严格符合 MJSQ 定义的抖动测试方法，并且 BERTScope 中内部的 delay 控制是误码仪中的，可以确保抖动测试的精度。可使用内置的抖动计算模型，包括 TJ（总抖动）、RJ（随机抖动）、DJ（确定性 抖动），或者将测试数据输出，进行自定义的抖动建模分析。
BSX 系列的低固有 RJ 可以同时满足 802.3ba 的 VECP (垂直眼图闭合代价)和 J2/J9 校准，并提供所需的重要余量，全面检定100G 以太网芯片。
灵活的时钟模式
BERTScope非常有特色的时钟产生路径为现实世界中不断涌现出的设备提供了灵活的测试方案。无论是电脑插卡还是硬盘，通常都需要提供子速率（sub-rate）系统时钟，例如PCI Express中100MHz的时钟。为了能使被测系统正常工作，需要提供差分的系统时钟，而且时钟的幅度、偏置各有不同；BERTScope内部提供灵活的分频系数，其灵活构架可以完成各种时钟的生成。
扩频时钟（SSC）通常用于串行系统中，以减小EMI的干扰。BERTScope可以调节的SSC的调制幅度、频率和调制的轮廓，如三角波、正弦波等，因此允许测试任何一种使用SSC技术的*性标准。还可使用额外的调制器和信号源，在高达4 MHz的频率上生成高幅度、低频率的正弦抖动（SJ）的时钟。
可编程的基准时钟倍频器
为进一步增加时钟输入的灵活性，BSX 系列提供了一个通用基准时钟倍频器，用户可以为10 MHz ~ 200 MHz 的输入基准时钟频率范围一个整数时钟倍率。时钟输出频率以 时钟合成器的频率范围为界，在 BSX 系列中是 1 GHz ~ 16 GHz。其为许多常用标准提供了预先定义的倍率。其为许多常用标准提供了预先定义的倍率。
处理闭合的眼图
随着通道中电信号的数据率越来越快，通道的损耗经常导致信号在Rx端的眼图闭合。在实际的系统中，常使用 Equalization（均衡）补偿通道的损伤，以得到“张开的眼图”。泰克提供了强大的工具来帮助设计者检定和测试这些系统中使用的接收机和发射机组件是否满足标准。
图形用户界面以合理的容易跟踪的方式表示控制功能，保持了BERTScope的一贯风格。响应的时域表示显示了阶权重设置的影响。频域 Bode 图显示了滤波器怎样补偿通道损耗。
对于接收机测试，BSX 系列内置 4 阶预加重/去加重功能，能够在仪器大数据速率下运行，在 BSX320 型号中达到 32 Gb/s。此外，快速控制输出均衡功能可以满足严格标准的链路训练响应时间要求。
PatternVu
PatternVu选件是一套软件实现的FIR滤波器，能够在眼图显示之前使用。在使用均衡的Rx系统中，PatternVu能够观测、测量在Rx端均衡之后、判定之前信号的眼图，即能将均衡的影响包含在测试结果中。均衡器多允许有32阶(tap)，并且可以选择每个UI的阶(tap)分辨率。
PatternVu
PatternVu还包括CleanEye功能，即码型固定的、经过平均处理后的眼图，可以去除眼图的非确定性抖动分量。CleanEye能够在存在大量随机抖动的情况下，清晰地看到ISI对系统的影响。
单次波形数据值输出是PatternVu的一个部分，能够显示所捕获的固定码型中的任意一个比特，非常类似实时示波器中的单次捕获功能。一旦被捕获，波形数据能够以多种格式输出，以便使用其他工具进行分析。
增加时钟恢复
泰克CR125A、CR175A和CR286A产品提供了灵活的*性时钟恢复方案。许多标准的抖动测试要求使用环路带宽的时钟恢复。使用不确定或未知的环路带宽将带来错误的抖动测量。泰克的时钟恢复仪器能够为各种标准测试提供简单、精确的测量。
直观用户界面提供了对所有操作参数的简单控制。*的环路回馈视图描绘了环路带宽的特性—该图是真实测量的结果，而不是数据设置过程。
BERTScope CR的使用不受BERTScope测量的限制。既可以配合其他仪器使用，如采样示波器或误码仪等，也可以和其他已有的仪器一起使用。通过把这些多功能仪器与现有的仪器结合起来，您可以实现标准测量。
此外，本地内置显示器和BERTScope用户界面中均提供了锁定状态和测得参数，如码型边沿密度和相位误码，可以实时查看输入信号特点和CR性能。
显示和测量 SSC 调制
扩频时钟（SSC）在的串行标准中经常使用到，以减小 EMI 干扰，例如：SATA，PCI Express 和下一代 SAS。泰克 CR 家族支持扩频时钟的恢复，能够显示和测量 SSC 调制波形。包括了大、小频率偏差（ppm 或 ps 为单位）、调制变化率（dF/dT）和调制频率等自动化测量项目。也包括了数据速率的显示以及简单易用的垂直、水平光标。
SSC 波形测量
增加抖动分析
泰克CR125A、CR175A或CR286A分别与选项12GJ、17GJ和28GJ及采样示波器或BERTScope相结合，实现了1.2 – 11.2 Gb/s可变时钟恢复、占空比失真(DCD)测量和实时抖动频谱分析。抖动频谱显示频率范围从200Hz到90MHz，可以使用光标进行测量。可以使用用户可设置的频率限定进行抖动的带限测量（上图例子中是PCI Express 2.0预设的带宽限制和抖动测量）。
抖动频谱测量。
消除接收机测试中的压力
随着网络变化，接收机测试挑战也在变化。虽然误码测试和接收机灵敏度之类的测试非常重要，但在现实世界中，必须考虑10Gb/s之类的背板系统和其他高速总线的接收机抖动容限性能。压力眼图测试（Stressed Eye Testing）现在在许多的行业规范中变得越来越常见。另外，工程师可以利用压力眼图测试来发现接收机性能极限，用以检查系统在设计和生产过程中的余量。
像进行PCI Express 2.0这类的串行总线*性接收机压力测试，通常需要用到多tai独立的仪器和设备，不得不花几个小时去设置仪器、连接被测设备。通过BERTScope一台仪器，以及测试向导来控制所有的经校准的压力源，非常方便地进行接收机压力测试 - 这些都是在一台仪器中完成的。该方案不需要外部电缆、混频器、耦合器、调制器，减少了校准过程，大大简化了压力测试的校准和测试。
压力眼图视图
灵活产生信号损伤
BERTScope内置高质量、经校准的各种信号损伤源，包括RJ、SJ、BUJ和SI。
ISI是许多标准中常见的信号损伤类型。BSA12500ISI差分ISI板提供了可变的链路长度，而不受开关频带空段和异常事件的影响。
灵活产生压力损伤
许多标准要求测试在不同频率、不同幅度、不同调制的SJ对Rx的影响。BERTScope内置的抖动容限功能通过用户自定义的容限模板，自动完成这项测试。同时，BERTScope还提供了许多标准的测试库供用户使用。
内置抖动容限功能
BERTScope 码型发生器产品
BERTScope码型发生器提供了完整的PRBS码型发生功能，支持标准和自定义码型。
STR选项可以产生集成的、经校准的压力信号，可以替代传统多仪器、手动校准的方案。该系列产品可以用于系统自带BER测量的案例，如DisplayPort；或配合传统误码仪以增加产生带压力码型的能力。
压力眼图测试选项
码型捕获
对未知的输入数据有几种处理方法。除了上面所讨论的实时数据分析之外，所有 BERTScope 分析仪都有一个非常有用的标配功能 - 码型捕获。该功能允许用户重复码型的长度，然后允许分析仪使用检波器的 512 Mb RAM 内存抓取传入数据。这些数据可以用作新的检波器参考码型，可以进行编辑和保存以便未来使用。
码型捕获
带压力眼图的码型发生器
码型发生器带压力眼图功能提供了下述特性：
幅度和 ISI 损伤
对 ISI，外部增加 ISI：例如，长的同轴电缆，或者 4 阶 Bessel-Thompson滤波器，-3dB 点等于 0.75 数据率
对需要模拟电路板耗散的应用，BSA12500ISI 差分 ISI 生成板提供模拟电路板走线损耗
抖动测量
数据速率在 Gb/s 的信号其眼宽就几百个皮秒，甚至更少。因此精确的抖动测量是控制抖动预算的重要部分。BERTScope 提供两套工具来完成这些重要抖动测试。
物理层测试套件使用广泛认可的 Dual Dirac 方法测试总体抖动 (Total Jitter) 和对总体抖动的分离，随机抖动 (RJ)、确定性抖动 (DJ)。BERTScope 采用的是误码仪的方法采集数据，样本深度远大于示波器测试抖动时所采集的样本深度，并很少采用推算的方法测量抖动。从根本上讲，这种方法的测试精度比高度依靠推算的方法的精度要高很多。
MJSQ 标准 Dual Dirac 抖动测量。
选配的抖动分离及定位 (Jitter Map) 是 BERTScope 上的抖动测量套件。该套件提供了复杂的分析子集，除了 RJ 和 DJ 之外，还包括了许多更高速的标准*性测试中定义的抖动测量。抖动分离及定位 (Jitter Map) 能在长码型上（例如 PRBS31）进行抖动测量和分离，也支持实时在线数据抖动分析，*次能够在较短的同步数据码型上运行（需要实时数据分析选件）。
图：抖动分离及定位。
主要特性包括：
抖动峰值和BER轮廓测量的实时数据
灵活的外部抖动接口
灵活的外部抖动接口包括下述特性：
内部的 RJ、BUJ 和外部高频抖动输入合成幅度大 0.5UI，合成抖动中的每一项幅度大 0.25UI。可以使用后面板低频抖动输入增加额外的抖动；外部低频抖动、10 MHz 以下的内部低频 SJ、PCIe LFRJ 和 PCIe rSSC（使用选项 PCISTR）之和限于 1.1 ns。这些限制对 XSSC 选项的相位调制 (PM) 无效。
抖动损伤
有界非相关性抖动（BUJ）：
| BUJ 速率 | 滤波器 |
|---|---|
| 100 – 499 | 25 MHz |
| 500 – 999 | 50 MHz |
| 1,000 - 1,999 | 100 MHz |
| 2,000 | 200 MHz |
随机抖动
正弦曲线抖动
| 调制类型 | 内部 SJ 频率 | 大内部 SJ 幅度 |
|---|---|---|
| 相位调制 | 10 Hz ~ 4 MHz | 19200 UI ≥11.2 Gb/s |
| 低频 SJ（可选择调制器1） | 1 kHz ~ 100 MHz | 1000 ps < 22.4 Gb/s 270 ps 2 10 - 28.5 Gb/s 130 ps 10 - 32 Gb/s |
| 高频 SJ | 100 MHz ~ 1000 MHz | 0.5 UI 3 |
SJ 可以从 0 调节到大于等于表中范围的水平。范围在高调制速率和/或位速率下会减小。请参阅扩频时钟和相位调制以了解更多 PM 功能详细信息，以及正弦曲线抖动 (SJ)以了解更多 SJ 功能详细信息。
1范围可以在 1100 ps、270 ps 和 大 130 ps 之间选择；范围越低，本底抖动越低。
2完整的 SJ 范围为 270 ps，有 RJ 或 BUJ 时，范围下降到 220 ps。
3HFSJ、BUJ、EXT、HF 抖动与 RJ 总和 ≤ 0.5 UI
测试接口卡
后，我们提供了一个解决方案，来解决在高速线路卡、主板和实时业务上进行物理层测量的问题，那就是 BERTScope 在线数据分析选项。通过以全新方式使用双判定点结构，该仪器能够进行参数测量，如抖动、BER 轮廓和 Q 因子，以及标准中要求时钟信号的眼图和模板测量。可以增加抖动定位及分离选项，在在线数据上查看更多层抖动分解。您不会再因为码型未知、不可预测或涉及速率匹配字插入而感到无所适从。现在调试变得异常简便，只需一键操作就能进行物理层测试，为您提供*的视角。
用户软件界面
用户界面把可用性提升到全新高度：
UI设置界面
独立视图中含有码型编辑器、码型段编辑器和码型排序器，要求用户提供分辨率低为1280 x 1024的VGA兼容监视器。
码型和序列编辑器
物理层测试选项
提供了下述物理层测试选项：
实时数据分析选项
实时数据选项主要用于测试系统在线时数据传输性能。该选项可用于测试系统传输的码型未知或非重复的情况，还包括为匹配时钟速率而在数据流中插入空闲位的情况。也可适用于探测线卡信号等等。
这个选项使用两个前端判决电路中的一个，通过放置在眼图中心，判断数据是 0 还是 1。另外一个用于探测眼图外部以决定参数性能。这种方法对物理层问题十分有效，但并不能识别由于协议引起的逻辑层问题，也就是预计是1、发送的却是0的情况。
实时数据选项可以能够使得在线数据进行 BER 轮廓、抖动峰值和抖动分离及定位和 Q 因子的测试。眼图测试可以不需要该选项，只需要提供外部的时钟即可。
实时数据分析选项需要物理层测试选项，必须使用全速率时钟。
PatternVu 均衡处理选项
PatternVu1为BERTScope 增加了几个强大的处理功能：
滤波器的参数可用通过对 FIR 滤波器中一系列阶的权重调节而改变。至多 32 个阶，间隔从 0.1 UI 到 1 UI，可精确调整滤波器的形状。FIR 滤波在任何重复码型下有效，码型长度上限32,768位。
1PatternVu 以900 Mb / s 或更高的数据速率运行。
误码分析
误码分析是一些列和误码发生情况紧密联系在一起的的视图，能够简单、快速的发现潜在的问题。可以非常方便的在眼图的某个区域内放置 BERTScope 采样点，探测在位置上的码型灵敏度。例如，直接观测码型是否会导致信号边沿时刻的提前或滞后。
BERTScope 系列产品标配了许多视图：
条状图：比特位和突发误码率的条状图。
条状图显示了误码和误包随时间的变化。例如在做温度循环实验时，可以发现系统故障出现的规律。
码型灵敏度视图时一个强大的工具，用以检查错误事件和码型之间的关系。能够显示出哪种码型序列有多的问题，支持 PRBS 和用户自定义码型。
前向误码纠错仿真选项
BERTScope因为采用了zhuan利的误码定位技术，在测试中可以确定每一个误码发生的位置。通过用假设误码纠错器，仿真内存块典型的纠错码，例如Reed-Solomon结构，以通过非相关数据通道的误码率测试，确定找到合适的FEC方法。用户可以设置误码纠错的力度，交织的深度以及确保符合流行的纠错硬件结构。
二维误码映射
通过发现到的误码，分析绘制出二维误码分布图。误码分布基于帧的大小或者复用器的宽度，分析出误码是否容易在帧的某个位置上，或者连接到复用器的并行总线中的某一个特定的比特位上。 这个可视化的工具能够发现其他分析方法所无法观测到的误码。
| 特点 | 说明 |
|---|---|
| 实时分析 | 连续 |
| 误码记录容量 | 大 2 GB |
| 误码事件/秒 | 10,000 |
| 大突发长度 | 32 Kb |
抖动容限模板选项
许多标准要求测试在不同频率、不同幅度、不同调制的SJ对Rx的影响。BERTScope内置的抖动容限功能通过用户自定义的容限模板，自动完成这项测试。同时，BERTScope还提供了许多标准的测试库供用户使用。
可调节的测试参数
另外还包括在每一个选择点上进行测试的能力，以及数据可以导出为截图或CSV文件。
误码位置分析调试
强大的误码分析功能 – 在这个例子中，眼图测试结果和BER联系在一起，发现并解决了内存控制芯片的一个问题。左上角的眼图显示了在信号在十字交叉区域出现比正常眼图所少见的特征。接着将BER判定点移动到该区域上仔细勘察。Error Analysis 结果显示出问题特征和码型中第24个标记位有一定的联系。进一步调查发现和IC内部的时钟分频有关；系统时钟是输出数据速率的24分频。重新设计芯片中增大了对时钟链路的隔离后，就能得到右下角所示的干净眼图。
误码分析能力实例
抖动分离及定位 (Jitter Map) 选项
抖动分离及定位(Jitter Map)1用长码型抖动三角形测量法自动抖动分离。抖动分离及定位(Jitter Map)扩展了以BER为基础的抖动分离，除了按照Dual-Dirac方法测量总体抖动（Tj）、随机抖动（Rj）和确定性抖动（Dj），还可以将确定性抖动分析为更加详细的抖动类型。该选项也能测量和分离极长码型上的抖动，例如PRBS31，假设系统受限运行在较短的同步数据码型上。
该选项的特点包括：
1抖动分离及定位要求数据速率高于900 Mb/s。
2SRJ和F/2抖动运行速率11.2 Gb/s (所有配置)
带压力实时数据选项
BERTScope带压力实时数据选项帮助工程师zui实时的数据上增加各种各样的压力，以模拟在现实的环境中，观察被测系统的响应。使用带压力的实时测试数据能够测量系统性能的边界极限，增加系统设计的信心。
符号过滤选项
对插入到码流中的时钟补偿符号数量不确定的输入数据流，符号过滤功能支持在输入数据流上进行异步BER测试，包括抖动容限测试。
更多产品详见：德国Testo红外分析仪
