LESTEST/莱思 品牌
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可程式高低温试验箱适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过该试验，提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。是航空、汽车、家电、科研等领域需备的测试设备，考核和确定电工、电子、半导体、通讯、光电、电器、汽车电器、材料等产品，在进行高低温试验的温度环境快速变化后的参数及性能，使用的适应性，适用于学校，工厂，军工，研发等单位。
可程式高低温试验箱产品性能
有效容积408L
内箱尺寸：600*850*800mm宽高深
温度范围 | -70℃~+150℃ |
升温速率 | 3.2℃/分钟（非线性空载） RT（常温）—150℃（约）30分钟 |
降温速率 | 1.0℃/分钟（非线性空载） RT（常温）— -70℃（约）90分钟 |
解析精度 | 0.01℃ |
温度波动度 | ±0.5℃ |
温度偏差 | ±2.0℃ |
电源 | AC三相五线 380V 50Hz（电压波动≤±10%） |
功率 | 最大有效功率8.0KW |
设备重量 | 380kg |
满足试验标准 | GJB150.3-2009高温试验 GJB150.4-2009低温试验 GB/T 10592-2008 高低温试验箱技术条件； GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温（IEC 60068-2-1:2007,IDT）; GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：低温（IEC 60068-2-1:2007,IDT）； GB/T 2423.22-2012电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验N:温度变化（IEC 60068-2-14:2009，IDT）； GJB 150.3-86 设备环境试验方法 第3部分 高温试验； GJB/T 150.4-86 设备环境试验方法 第4部分 低温试验； |
冷却方式 | 设备采用/风冷式 |
