产品说明、技术参数及配置
仪器采用*技术制造，测角仪测角准确度与精确度均达到当前*水平。光源与探测器能长时间稳定工作，保证衍射峰位、峰形和强度测量准确、精确。进行物相结构分析，包括：物相含量、晶粒大小判断、结晶度、奥氏体含量、晶胞测定、二类应力计算、衍射线条指标化、物相结构等分析；薄膜材料分析，小角粒径分析等。仪器包括高稳定性X射线发生器、高精密测角仪、封闭正比探测器（或SDD探测器、或一维高速半导体阵列探测器）、数据处理软件、相关应用软件等。
仪器特点
高稳定性X射线源：仪器采用DF3型固态X射线发生器，很大提高衍射仪测量结果的稳定性
长寿命X射线管：金属陶瓷X射线管，具有散热好、运行功率高（40kV×40mA）、使用寿命长特点
高精密测角仪：衍射角驱动采用伺服电机驱动+光学编码控制技术，具有定位准确、测量精度高测角仪内藏式设计，使仪器表现更整洁、美观、大方，在衍射角度测量范围内，衍射角度线性度小于0.02°
拓宽衍射仪应用领域的附件齐全：高温、低温、多功能等衍射仪各种附件安装实现“即插即用”,软件自动识别控制技术，方便操作人员对仪器的使用
射线防护安全可靠：X射线散射线防护装置更安全可靠，样品测量时射线防护门自动禁止打开，双重防护，任何情况下都能避免操作人员受到散射线辐射
应用领域
未知样品中物相鉴定
混合样品中已知相定量分析
晶体结构解析（Rievtveld分析）
非常规条件下晶体变化（高低温）
薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度、电荷密度
金属材料织构、应力分析
