半导体集成电路行业电镀铂厚度检测仪
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XAD半导体集成电路行业电镀铂厚度检测仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-04-29 09:56:07
1500
属性:
产地类别:国产;价格区间:10万-20万;应用领域:化工,能源,电子,电气,综合;
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产品属性
产地类别
国产
价格区间
10万-20万
应用领域
化工,能源,电子,电气,综合
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深圳乔邦仪器有限公司

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产品简介

毛细管聚焦X荧光镀层测厚仪
高性价比上照式光谱测厚仪,对各类镀层厚度分析的同时可对电镀液进行分析,适用于各种超大件、异形凹槽件、密集型多点测试或自动逐个检测大量的小部件。半导体集成电路行业电镀铂厚度检测仪

详细介绍

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国nei首chuang、全qiu领xian的多导毛细管技术,轻松应对超小测量点薄涂层和极薄涂层的测量分析,在柔性电路板、芯片封装环节、晶圆微区的镀层厚度和成分自动测试分析中尽显优势


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主要利用X射线全反射原理,从X射线管激发出来的X射线束在毛细玻璃管的内壁以全反射的方式进行传输,利用毛细玻璃管的弯曲来改变X射线的传输方向,从而实现X射线汇聚,同时将X射线的强度增加2~3个数量级。

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▪ 在一六仪器du创的高集成光路系统的基础上,搭配多导毛细管 实现极小面积或极薄镀层的高速、精确、稳定的测量,聚焦直径可小至10μm

▪quan球qian沿的多导毛细聚焦技术,可产生比准直器机构强千倍的信号强度

▪ 多导毛细管将激发光束非常高强度的集中在一个的小光斑上,从而显著缩短测量时间

▪ 在测量纳米级Au厚度或薄膜层厚度及成分时,满足微小光斑、短测量时间的同时,测量效果接近wan美

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测量精度更高:新开发的du特的光学器件和全qiu领xian的多导毛细管技术可对超微小区域及纳米级薄层高精度测量

超微小样品检测:精确测试最小测量点直径可达10µm,全球测量微点技术的领xian者

测量效率高:高灵敏度、高解析度X荧光检测系统搭配多导毛细管技术,测量时间更短,能够实现普通机型几倍的检测量

适配性强:适用于各类样品尺寸的产品线,如600*600mm大型印刷电路板

操作体验佳:高精细样品观察图像,微区小至纳米级别的分辨率,实现更快速便捷的测试

自动、智能:搭载可编程全自动位移平台,无人值守、自动检测样品同时搭载影像识别功能,自动判定测试位置

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