光衰实验检测老化箱/光照衰减实验箱整体大方，外形优美，双面留有散热口，充分利用恒温车间的环境散热降温，硅片光照后热源及少量遗留的灯照热源由风扇降温，保持硅片温度。

2、产品整体为单层结构，内室尺寸1200*500*800mm，可对多片电池片做光衰。

3、上层为射灯；下层为电池片垫板，镂空设计装有排风扇；

5、正面有控制开关，设有时间控制器，底座装有滑轮方便移动。

6、光源合理分布（宇清），保证硅片光照的均匀和光照。

8、本设备设有时间控制器，时间可设定。

9、模拟太阳光源1200小时。

二、光衰实验检测老化箱/光照衰减实验箱详细规格:

1、整机外型尺寸大于1240 * 600 * 1500 mm （长宽高）；（可定制）

2、室内温度：控制在80℃以下。

3、光衰灯源：满足硅片测试光衰用照射灯（氙灯）；

4、光照满足600-1100W·M^-2；色温5500K

5、装有排风扇，对内室硅片进行降温；

6、灯距离片子的高度一般50CM。（30-70cm电动可调）

7、设备可长时间工作，工作时间可调。

8、温度显示：温控器，温度解析精度0.1℃，温度准确性±2℃

9、定时器，德力西

三、保 护 系 统

1、整体设备欠相/逆相保护；

2、漏电保护；

3、故障报警后自动停机。

4、短路保护；

5、过电流保护

四、设备使用条件
1、环境温度：5℃～＋30℃；
2、环境湿度：≤85%；
3、电源要求：三路AC220（±10%）V/50HZ  

4、预装容量：8 KW。