格林诺尔GN-FSDD900光谱仪主要应用于采矿作业（勘探、开采、品位控制），工业矿物，生产水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化学学术研究，考古等。其优异的线性动态范围，可实现在水泥、矿物、采矿、金属、玻璃和陶瓷行业进行超高精度的过程控制和质量控制。

具有全新真空光路系统和超高分辨率技术的新一代Fast SDD检测器，对轻、中、重元素和常见氧化物（Na₂O、MgO、Al₂O₃、SiO₂、P₂O₅、SO₃、K₂O、CaO、TiO₂、Cr₂O₃、MnO、Fe₂O₃、ZnO和SrO等）都可达到最佳分析效果。

Simply the Best

>*制成Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器

>真空光路配备薄膜滤光片技术，提高轻元素检出限

>可同时分析40种元素

>可分析固体，液体，粉末和泥浆

>进口X光管管芯提供可靠样品激发性能

>无损检测，快速分析（1-2分钟出结果）

>无需化学试剂，无耗材，更环保，更高效

GN-FSDD900的分析性能，使其可以轻松完成对以下矿种的测试：

铁矿(磁铁矿、赤铁矿、钛铁矿、菱铁矿等)

铜矿(黄铜矿、赤铜矿、孔雀石等)

铬矿(铬铁尖晶石、铬铁矿、铬铋矿等)

钼矿(辉钼矿、铜钼矿、钨钼矿等)

钨矿(白钨矿、黑钨矿、锡钨矿等)

钽矿(钽铁矿、铌铁矿、烧绿石等)

铅锌矿(方铅矿、闪锌矿、白铅矿等)

镍矿(红土镍矿、硫化铜镍矿等)

铝土矿

其它矿类

采矿作业矿产矿石元素分析仪（XRF）产品特点

1.小型化、高性能、高速度、易操作，Na11-U92高灵敏度、高精度分析

2.可同时分析40种元素

3.采用多准直器多滤光片和扣背景技术

4. Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器提供出色的短期重复性和长期再现性以及出色的元素峰分辨率

5.超高记数数字多道电路设计，双真空抽速机构，真空度自动稳定系统

6.标配基本参数法软件，多任务，多窗口操作

7.薄膜滤光片技术，有效提高轻元素检出限

采矿作业矿产矿石元素分析仪（XRF）仪器参数

仪器配置

全新设计的XTEST分析软件

软件内核包括基本参数法（FP），经验系数法（EC）,可轻松分析各类样品。

*光谱处理参数包括用于定义背景连续性，堆积峰和峰总和，平滑度以及测量到的峰背景光谱的数量

*对吸收以及厚膜和薄膜二次荧光的*校正，即所有基质效应，增强和吸收。

*谱显示：峰定性，KLM标记，谱重叠比较，可同时显示多个光谱图

*可以通过积分峰的净面积或使用测得的参考光峰响应，将光峰强度建模为高斯函数。

*可以使用纯基本参数方法，具有分散比的基本参数（对于包含大量低Z材料的样品）或通过简单的最小二乘拟合进行定量分析。

*基本参数分析可以基于单个多元素标准，多个标准或没有标准的样品。