超景深显微镜DeepFocus1
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超景深显微镜DeepFocus1

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2023-05-24 10:43:58
2283
属性:
产地类别:进口;价格区间:面议;应用领域:电子,交通,航天,汽车,电气;最大图像尺寸:2048 x 1536 像素(实时及快照模式);
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产品属性
产地类别
进口
价格区间
面议
应用领域
电子,交通,航天,汽车,电气
最大图像尺寸
2048 x 1536 像素(实时及快照模式)
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似空科学仪器(上海)有限公司

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产品简介

DeepFocus 1数码显微镜,结合蔡司Visioner1和MALS™技术,提供比传统显微镜系统更大的景深(DoF),在单一视图中提供实时清晰的影像。

详细介绍

DeepFocus 1 景深增强数码显微镜




全视图 – 聚焦 – 快速


DeepFocus 1数码显微镜,结合蔡司Visioner1和MALS™技术,提供比传统显微镜系统更大的景深(DoF),在单一视图中提供实时清晰的影像。


无论是在质量实验室负责研发还是在生产线上,越快速地识别和报告问题或理解样本故障,就能越及时地交付高质量的产品。
DeepFocus 1的先进3D立体可视化技术令用户可从任何角度观察物体。 高度图和地形图以容易理解的视图显示捕获的数据,包括Z轴高度细节。
这些查看模式可确保令失效分析和质量控制更加高效,与传统观测系统相比,可更快速地提供准确结果。
全焦点
传统观测系统受景深深浅的限制,特别是在高倍放大时。 只能聚焦样品的一小部分区域,则有可能导致特征缺失和观测不完整。
DeepFocus 1数码显微镜可以在单一视图中扩展多达100倍的样本景深。
高度达69mm组件的锐聚焦图像在单一视图中显示,无需 重新定位组件,避免任何额外的重聚焦或Z轴堆叠处理。
应用
模块化的结构、软件和配件使得DeepFocus 1可以灵活配置,适合多种广泛应用,适用于大多数工业环境中多种 多样的目标物观测任务。
它占地面积小,非常适合车间质量控制。 能够立即记录检查任务,成为需要严格监管行业的理想选择,如航空航天和医疗设备制造。



灯泡灯丝的扩展景深 (EDoF) 视图





针尖的扩展景深 (EDoF) 视图


连接器的扩展景深(EDoF) 视图

PCB板的扩展景深 (EDoF) 视图




什么是 MALS™ 技术?

通过MALS™技术,可以实现超快速的视觉观测,可实时提供高达100倍的可用扩展景深(EDoF)。
使用微镜阵列透镜系统( MALS™)可以生成曲率明显不同的“虚拟”透镜,从而产生不同的聚焦平面。这是通过以协调的方式改变每个微镜的方向来实现的。快速调整“虚拟”镜头的曲率可以实现超快速聚焦和实时全焦点成像和文档记录。







专为提高生产率设计
DeepFocus 1不仅简化了成像和文档记录任务,而且实时扩展景深视图EDoF使用户

能够更快地检查组件,提供更高的工作量。


与所有Vision Engineering产品一样,DeepFocus 1也是为提高操作者效率而设计。 DeepFocus 1即使在操作目标物或样品含有移动部件时也能保持清晰的聚焦图像。
通过消除观测过程中重新聚焦的需要,或耗时的Z轴堆叠图像处理,显著提高生产率。
三种查看细节的方式
除了Quan领Xian的扩展景深视图(EDoF),还可在“高度图”模式或“地形图”模式查看目标物。 通过不同的方式显示信息,可以突出细节特征并更清楚地理解。
简单快速报告
行业法规和质量控制过程意味着详细的检验报告是必要和重要的要求。可快速简单地 从实时视图中获取2D图像。 这些图像像任何标准宽场显微镜图像一样可供使用和分析。 测量叠加图可以应用于实时图像,并可立即给出公差差异指示。

定制化的工作界面,即使在不同部件和检查之间切换,也可获得快捷的、可重复的报告,简化流程并减少操作失误。



扩展景深视图 (EDoF)


高度图视图
测量
内置的测量功能,包括“出入”公差提示,轻松获得详细报告。 在实时视图中测量,并从捕获的图像中进行增强测量,可加快和简化细节分析任务。
对轮廓特征的简单检查中增加了重要的Z轴作为可用信息。


地形视图
测量工具
实时测量圆、线、多边形和矩形详细尺寸,面积、距离和角度。
静态测量增加了Z轴角度、距离和半径,以及注释、多距离测量和曲线。


优化照明
不同特征的高清晰度成像往往需要特定的照明模式。
DeepFocus 1有可调节的环形光和同轴光,为每个目标物提供正确的照明。
自动眩光控制技术可为反光*的目标物提供实时无眩光图像。内置同轴光为反光表面及侧面带来理想照明,并可带来细孔底部的清晰无阴影图像。
软件选项
通过一系列额外的数码显微镜软件来扩展更多应用范围、提高效率和扩展功能。 添加诸多功能如先进的图像分析、可审批可溯源的工作流程、自动测量和评估等。



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