核心优势.ore strengths

配套自主知识产权XRD 数据分析软件 包，可以完成物相鉴定及定量分析工作

较高的信噪比，提高采样效率，数据 采集时间小于15~20 分钟。 (半导体

样品小于5分钟)

良好光路系统设计，物相定量分析达 到台式机的水平，检出限大于3wt.%,  相对误差优于10%

选择使用Mo 靶光源，能量更高，无 需换靶即可完成绝大部分晶体测试，且可提高样品的装填厚度

技术参数Technical paramete

应 用 案 例Application case

标准物测量：

对国际晶体学会(IUCr)提供的三组标准数据进行定量分析测试，结果如图所示。IUCr  数据为样品实际称重

数据。

从上述三组标样分析对比结果可以看出， TopMINI 的分析精度误差<3%,检出限为1%

分析结果见下图。