LZ-990双膜测厚仪日本凯特科学研究所

双膜测厚仪LZ-990（ESCAL）

无损检测设备

尽管简单紧凑，但它具有薄膜厚度管理所需的全部功能。具备15种功能，例如应用程序存储器（校准曲线存储器）功能，测量数据存储器，膜厚管理的上下限设置，简单的统计处理，数据输出。可以测量施加于磁性金属的膜厚和施加于非磁性金属的膜厚。

LZ-990双膜测厚仪日本凯特科学研究所

特征

双膜测厚仪

您可以测量基材是含铁的还是有色的。

自动碱基识别

将自动识别基材并进入测量模式。

配备应用程序存储器（校准曲线存储器）功能

记录了8种电磁和涡流类型，总共记录了16种已调整的应用程序（校准曲线）。

配备数据输出端子

测量数据可以输出到个人计算机。

具备各种功能

具备各种功能，例如应用程序存储器（校准曲线存储器），测量数据存储器，数据删除，数据输出，批次分类，自动电源开/关功能，时钟功能，上下限设置，统计计算，背光功能，单位设置..

LZ-990的可测膜与基材的关系

各部分的名称和测量示例

规范

零件

• 身体
• 零板支架（铁/铝一体型）
• 标准板x 5（50μm，100μm，300μm，500μm，1000μm）
• 2节AAA电池
• 便携袋
• 说明书