美国MAS超声粒度分析仪

美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前，美国MNS公司纳米粒度及Zeta电位分析仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成，可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波，由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同， 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。

主要特点：

1）能分析多种分散物的混合体；

2）无需依赖Double Layer模式，准确地判定等电点；

3）可适用于高导电(highly conducting)体系；

4）可排除杂质及对样品污染的干扰；

5）可准确测量无水体系；

6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；

7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；

8）具有自动电位滴定功能；
美国MAS超声粒度分析仪

优于光学方法的技术优势：

1)被测样品无需稀释；

2)排除杂质及对样品污染的干扰；

3)不需定标；

4)能分析多种分散物的混合体；

5)高精度；

6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um

超声法原理粒度电声法Zeta电位分析仪

优于electroactics方法的技术优势：

1)无需定标；

2)能测更宽的粒径范围；

3)无需依赖Double Layer模式

4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；

5)零表面电荷条件下也可测量粒径；

6)可适用于无水体系；

7)可适用于高导电(highly conducting)体系；

优于微电泳方法的技术优势：

1)无需稀释，固合量高达60%；

2)可排除杂质及对样品污染的干扰；

3)高精度(±0.1mv)；

4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；

5)electrosmotic flow不影响测量；

6)对流(convection)不影响测量；

7)可准确测量无水体系；

技术参数：

1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；

2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；

3)Zeta电位测量范围：+/-500 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv);

4)零表面电荷条件下也可测量粒径；

5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；

6)样品体积：30-230ml；

7)PH范围：0~14;

8)电导率范围：0~10 s/m