多孔材料表面Zeta电位分析仪

原理简介：

APS 从声衰减光谱测量产生PSD数据，不需要稀释样品。APS还测量粒度范围的10纳米到100微米的样品的声音速度谱、pH、电导率和温度。

当声音穿越泥浆或胶体时，是衰减的。衰减的程度与粒度分布有关。APS可在1 - 100 MHz的频率范围内非常准确地测量声音衰减。因为声音穿过所有的物质媒介，APS声音衰减的测量可以在高浓度和/或不透明的样品中进行。粒子沉降并不是一个问题，因为在测量时样品可以被搅拌或泵送。APS分析不受样品的Zeta电势水平的约束。APS很容易分析零粒子和高电荷。

APS取样分析是快速和容易的，无需稀释样品。稀释样品费时，容易出错，并可能改变样品的实际PSD。简单地倒，或者连续泵送样品进入到APS的样品室，APS的直观的软件在几分钟内做玩余下的工作。

计算详细PSD数据的技术，不需要假设PSD形状。其他类型的仪器，例如光散射，意味着软件或操作者假设或猜测PSD是单峰、双峰、对数正态或高斯分布的。这种假设可能导致数据不可靠。

专门的APS硬件设计简化了操作，同时减少维护。这个设计适合研发以及重复质量控制测量。APS也适合过程在线操作。

多孔材料表面Zeta电位分析仪

主要用途：

1)半导体化学机械抛光(CMP)料浆；

2)陶瓷；

3)油墨；

4)乳剂稳定性；

5)药品；

6)生物胶体；

7)荧光粉；

8)有机和无机颜料如Ti02和炭黑；

9)催化剂；

10)矿物；

11)聚合物乳液；

12)水和非水分散体系；

技术参数：

1)完整的粒度分布,而不是简单的平均值和标准偏差大小的数据；

2)不需要稀释样品；

3)不需要假设PSD形状；

4)粒度范围：0.005-100微米；

5)无电解质干涉；

6)可测量水的/非水的/不透明的/粘性的样品；

7)可测量纵向粘度，60%固体，PH值，电导率，温度，声衰减和声速度谱；

8)具有自动滴定选项；

9)专门技术：1-100MHz声衰减谱；

10)溶剂：水/非水；

11)样品固体%：0.1-60%体积比；

12)样品体积：标准是120ml，50ml小体积可用；