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日本日立EA1400台式荧光光谱仪
面议日本日立EA1000AIII/EA1280台式光谱仪
面议Lab-X5000/X-Supreme8000X射线荧光仪
面议SPECTRO xSORT XHH03 手持式荧光光谱仪
面议SPECTRO xSORT XHH04手持式荧光光谱仪
面议菲希尔MMS INSPECTION SPG 手持式粗糙度仪
面议菲希尔SIGMASCOPE GOLD 手持式电导率测试
面议菲希尔SIGMASCOPE®SMP350手持式电导率测试
面议FERITSCOPE® DMP30手持式铁素体含量检测仪
面议德国菲希尔MPO/ MPOR 手持式涂层测厚仪
面议菲希尔MMS INSPECTION DFT 防水涂层测厚仪
面议菲希尔PHASCOPE PMP10手持式电镀镀层测厚仪
面议增骏XTU-4C膜厚测试仪介绍:
XTU-4C是一款专业性能型镀层测厚仪/膜厚测试仪/光谱测厚仪,下照式微聚焦多准型设计,搭载先进的EFP算法软件和微光聚集技术,配合切换准直器在检测各微小及凹凸面样品时检出限更低,仪器寿命更长,性能更稳定。
XTU-4C广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域
产品特点:
微聚焦加强型X射线装置:可测试各类极微小的样品,即使检测面积为0.002mm²的样品也可轻松、精准检测
变焦装置及位置补偿算法:可对各种异性凹槽进行检测,凹槽深度测量范围可达0-30mm
自主研发EFP算法:多层多元素、各种元素及有机物,甚至有同种元素在不同层也可精准测量
微米级移动精度:高精密XY移动滑轨,实现多点位、多样品的精准位移和同时检测,移动精度可达5um,轻松应对极微小样品检测
先进的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限