考种分析系统
考种分析系统
考种分析系统
考种分析系统
考种分析系统

SYKZ-A考种分析系统

参考价: 订货量:
35000 1
33600 5

具体成交价以合同协议为准
2024-04-10 19:25:36
1500
属性:
应用领域:环保,农业;
>
产品属性
应用领域
环保,农业
关闭
辽宁赛亚斯科技有限公司

辽宁赛亚斯科技有限公司

免费会员6
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

玉米考种分析系统及千粒重系统是根据图像识别原理来实现自动分析的。可用于玉米实粒种子的准确考种、对玉米的仔粒、果穗、截面、出苗数、整齐度、均匀度分析。

详细介绍

图像识别玉米考种分析系统  

产品介绍

千粒重系统是根据图像识别原理来实现自动分析的。可用于玉米实粒种子的准确考种、对玉米的仔粒、果穗、截面、出苗数、整齐度、均匀度分析。

功能特点

1. 考种分析系统软件可对图片玉米的散粒、整穗、截面进行分析,玉米考种分析及千粒重仪系统是根据图像识别原理来实现自动分析的。

2. 本配置专用于玉米籽粒、果穗、截面的准确考种分析(紫黑色玉米的果穗不能测)成像特性:扫描分析的种粒直径0.5~20mm。

3. 适用分析工作区尺寸:扫描仪A3幅面(431.8mm×301mm),可同时成像分析10个玉米果穗、35个玉米截面、1000粒左右的玉米籽粒。

4. 拍照成像分析为A4幅面。

5. 图像观察:具有任意放大、缩小、局部观察功能;籽粒数粒速度、精度:自动数粒速度:1500~3000粒/分钟,数粒误差≤±0.01,监视修正即达100正确。

6. 自动测出籽粒数、各籽粒的粒形参数(长、宽、长宽比、面积、等效直径、周长等),以及其平均值。

7. 自动千粒重分析的精度误差:≤±0.005。果穗、截面分析速度、精度:自动测出各玉米穗长、穗粗、秃尖长、左右穗缘角、穗行角、测量粒数、平均粒高、行粒数、穗行数。截面穗行数、穗粗、轴粗,以及其平均值,可测出各玉米截面上的粒长、粒宽、颜色等参数。

8. 备注:(电子天平内有驱动光盘,联上电脑之前需安装驱动)电子天平RS232重量数据的自动输入接口,天平上的被测样本重量数据可一键导出到电脑保存为EXCEL表。



上一篇:热处理油氧化安定性测定仪使用说明 下一篇:怎么用数粒仪数未知数量种子?
热线电话 在线询价
提示

请选择您要拨打的电话:

当前客户在线交流已关闭
请电话联系他 :