HIOKI/日本日置 品牌
经销商厂商性质
苏州市所在地
日置LCR表IM3536
特点
DC，4Hz~8MHz测量频率
● 测量频率DC，4Hz~8MHz
● 测量时间：最快1ms
● 基本精度：±0.05% rdg
● 1mΩ以上的精度保证范围，也可安心进行低阻测量
● 可内部发生DC偏压测量
● 从研发到生产线活跃在各种领域中
日置LCR表IM3536
| 测量模式 | LCR（单一条件下测量），连续测量（保存条件下连续测量） |
|---|---|
测量参数 | Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流电阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε |
| 测量量程 | 100 mΩ~100 MΩ, 10档量程（所有参数由Z规定） |
| 显示范围 | Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等 |
| 基本精度 | Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保证范围：1mΩ~200MΩ） |
| 测量频率 | 4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进) |
| 测量信号电平 | [V模式, CV模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (最大50 mA) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (最大10 mA) [V模式, CV模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (最大100 mA) [CC模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (最大5 V) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (最大1 V) [CC模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (最大1 V) [直流电阻测量]: 1 V固定 |
| DC偏压 | 发生范围：DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V) |
| 输出阻抗 | 通常模式：100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω |
| 显示 | 彩色TFT5.7英寸，触摸屏 |
| 功能 | 比较器、BIN测量（2个项目10种分类），触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能 |
| 接口 | EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出 |
| 电源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max |
| 体积及重量 | 330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg |
| 附件 | 电源线×1,使用说明书×1,CD-R（通讯说明书，LCR应用光盘）×1 |
半导体器件的直流偏置特性研究，适用于SiC、GaN、MLCC的偏压测试
多通道测试
※使用9268-10或9269-10时需要外接的恒压源、恒流源。
直接连接型，底部有电极SMD用，DC～8MHz（与IM3536-01 组合测量可达 10MHz），可测量样品尺寸：0402～1005（JIS）
DC~200kH，50 Ω，1 m长
线长1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可测端口直径：0.3~1.5mm
DC～8 MHz（与 IM3536-01 组合测量可达 10MHz）, 直接连接型，, 可测量端子直径:0.3〜2mm
直接连接型, DC～5 MHz（与IM3536-01 组合测量可达 10MHz） 测试尺寸: 1mm～10.0mm
直接连接型，40Hz~8MHz，最大外加电压DC±40V
直接连接型，40Hz~2MHz，最大外加电流DC 2A(最大外加电压DC±40V)
线长1m，DC~200kHz，50Ω，可测导体直径φ0.3mm~2mm
用于侧面有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：3.5mm±0.5mm
用于底部有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5mm以下
用于更换L2001的前端的通用尺寸，L2001标配
用于更换L2001的前端的小型尺寸
长度 1m，DC ~ 8MHz（与IM3536-01 组合测量可达 10MHz），50Ω，可测量端子直径：0.3 ~ 5mm
线长73cm，DC～8MHz，50Ω，前端电极间隔：0.3～6mm(IM9901:JIS尺寸1608～5750)（IM9902：JIS尺寸0603～5750）
2m长
9pin-9pin，1.8m长
