Leica EM TXP 是一款*的可对目标区域进行定位的表面处理工具，特别适合于 SEM，TEM 及 LM观察之前对样品进行切割、磨抛、冲钻等系列处理。适合对目标需要精细定位或需对肉眼难以观察的微小目标进行定点处理。标配 Leica 体视镜，方便定位和观察，自动化样品处理过程控制机制，可以帮助您从常规繁重的样品制备工作中解脱出来。
·多功能一体机
·实时观察、定位、精密加工
·自动模式、手动模式
·尤其适合制备高难度样品