C测试仪 3504-40

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  GP-IB连接线9151-02

  2m长

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  打印机 9442

  数码打印

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  AC适配器9443-02

  适用于打印机9442

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  连接电缆 9444

  适用于9442, 线长:1.5 m

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  记录纸 1196

  112mm x 25m, 10卷/盒

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  SMD测试治具9699

  用于底部有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5

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  SMD测试治具9677

  用于侧面有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：3.5mm±0.5mm

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  SMD测试治具9263

  直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm

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  测试治具9262

  DC～8 MHz, 直接连接型

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  测试治具9261

  电缆连接型, DC ～ 5 MHz, 1m长

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  镊形探头L2001

  线长73cm，DC～8MHz，50Ω，前端电极间隔：0.3～6mm

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  4端子测试探头 9140

  DC～100kHz, 1m长

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最shi用于分拣·检查的电容测试仪电容测试仪 3506-10 ·模拟测量时间0.5ms(1MHz)的高速测量·抗干扰性提高，微小电容的反复精度大幅提高·使用1MHz稳定测量低容量电容电容测试仪 3504-60,3504-50,3504-40 · 模拟测量时间1ms(1kHz)可测量定电压，最shi用于测量高容量MLCC ·可测量高达1.45mF的高容量定电压(120Hz，500mV时) ·3504-60可进行4端子接触检查。

3506-10, 3504-60, 3504-50, 3504-40共通优点共通优点 

■对应JIS C 5101-1的电容测试仪3506~3504的测量频率电容的种类去除电解电容的电容容量范围C C≤1000pF 1000pF＜C≤10µF测量频率[Hz]

 ●记号为推荐频率1M对应机型 

● 3506-10 1k ● 120 10µF＜C电解电容 

■ BIN功能---C测量根据测量值最多分类为14个等级※1，易于进行分拣等。※1  3506,3505最多为13个等级。3504-40无BIN功能。 

● 120 ○ 

 ■ 只需选择的简单操作&LED显示3504-60 3504-50 3504-40 3511-50 (参考)只需从面板标记项目中进行选择，操作简单。设定好的测量条件会点亮，能够一目了然把握设定条件。 

■ 比较器功能第一参数(C)、第2参数(D)可各自设置上下限值。判定结果可进行蜂鸣、LED显示以及外部输出，设定值始终显示。 

■ 存储功能测量数据可保存在主机。可通过GP-IB，RS-232C读出。　3506-10 ......................................1,000个　3504-60, 3504-50, 3504-40 ......32,000个 

■ 触发同步输出功能施加触发后输出测量信号，仅在测量时将信号施加到被测物上。因为是在接触被测物时流过大电流，因此能够减少接点的损耗。 

■可存储99※2组测量条件最多可保存99组测量条件，可迅速对应在重复测量较多的产线上切换被测物的情况。可利用EXT I/O读出任意测量条件。※2  3506-10最多为70组。 

■标配接触检查功能可检测出测量过程中的接触错误。可另外管理有过接触错误的样品，对提高成品率做出贡献。